[实用新型]一种集束型测试同轴电连接器

说明书

本实用新型涉及同轴电连接器领域，尤其涉及一种集束型测试同轴电连接器，包括集束插头和集数插座。集束插头的壳体设有多个第一台阶通孔，第一台阶通孔的设置使射频连接器能够稳定的固定在壳体内，不会产生晃动保证结构的稳定，使用多个射频连接器进行测试，不仅能提高测试效率，还能够保证多个射频连接器都能够稳定、精确的插入集束插座的第二凹槽。集束插座的截面形状与第一凹槽截面形状相同，不仅保证了集束插座和集束插头的连接稳定性，也使射频连接器能够与第二凹槽精准对位，确保集束插座和集束插头连接的精准。

技术领域

本实用新型涉及同轴电连接器领域，尤其涉及一种集束型测试同轴电连接器。

背景技术

连接器作为信号传输的基础单元，广泛应用于通信、军工、航空航天系统，随着无线电的迅猛发展，现有单芯连接器已远不能满足未来通信、5G、物联网的需求，尤其是超密集布线、高强度运算、多频段接入的复合场景应用中。单芯测试的模式已经完全无法全面满足测试模块的需要。因此，急需一种结构稳定的能够多芯同时测试的同轴电连接器。

实用新型内容

为了克服上述现有技术的缺陷，本实用新型所要解决的技术问题是提供一种结构稳定的集束型测试同轴电连接器。

为了解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案为：一种集束型测试同轴电连接器，包括集束插头和集数插座；

所述集束插头包括壳体、射频连接器和固定板；所述壳体的一端设有第一凹槽，所述第一凹槽内沿第一凹槽方向上设有两个以上的第一台阶通孔；所述射频连接器设置在第一台阶通孔内且所述射频连接器的连接头位于第一凹槽内；所述固定板设置第一凹槽相对的端面上，所述固定板上设有用于固定射频连接器的连接电缆的凹槽，所述凹槽的数量与第一台阶通孔的数量相等且一一对应设置；

所述集束插座的截面形状与第一凹槽截面形状相同且所述集束插座的一端设置在第一凹槽内；所述集束插座内部设有与第一台阶通孔数量相等且一一对应设置的第二台阶通孔；所述集束插座与集束插头接触端面上设有与所述连接头相适配的第二凹槽；所述第二凹槽的数量和第二台阶通孔的数量相等且一一对应设置。

进一步的，还包括测试电路板；所述测试电路板上设有测试接口；所述测试接口与第二台阶通孔的数量相等且一一对应；所述测试电路板设置在集束插座与集束插头接触端面的相对面上。

进一步的，所述集束插座与测试电路板接触的端面上设有两个以上的定位柱；所述测试电路板上设有与所述定位柱相匹配的定位孔。

进一步的，所述连接头上设有环形凸起；所述连接头的侧面上设有两个以上贯穿环形凸起的条形槽。

进一步的，所述集束插座的第二凹槽内设有与环形凸起相适配的第三凹槽。

进一步的，所述壳体与固定板接触的端面上设有第四凹槽且所述第三四凹槽的形状与固定板相同；所述固定板设置在所述第四凹槽内。

进一步的，所述第一凹槽的横截面形状为矩形；两个以上所述第一台阶通孔呈直线均匀排列在第一凹槽对应矩形的任意一条的对称轴上。

进一步的，所述壳体的四周均设有与第一台阶通孔垂直的条形凹槽。

本实用新型的有益效果在于：集束插头的壳体设有多个第一台阶通孔，第一台阶通孔的设置使射频连接器能够稳定的固定在壳体内，不会产生晃动，从而保证结构的稳定，使用多个射频连接器进行测试，不仅能提高测试效率，还能够保证多个射频连接器都能够稳定、精确的插入集束插座的第二凹槽。固定板不仅限制射频连接器的脱出使结构稳定，还能够对射频连接器的连接电缆进行疏导，保证多个使用时射频连接器的电缆不会交叉在一起。集束插座的截面形状与第一凹槽截面形状相同，不仅保证了集束插座和集束插头的连接稳定性，也使射频连接器能够与第二凹槽精准对位，确保集束插座和集束插头连接的精准。

附图说明