[实用新型]一种光传感器光电性能测试装置有效

专利信息
申请号: 201921994383.3 申请日: 2019-11-15
公开(公告)号: CN211042484U 公开(公告)日: 2020-07-17
发明(设计)人: 李宏业;高伦 申请(专利权)人: 河北光森电子科技有限公司
主分类号: G01J1/00 分类号: G01J1/00;G01M7/02
代理公司: 石家庄领皓专利代理有限公司 13130 代理人: 王春丽
地址: 050000 河北省石家庄市*** 国省代码: 河北;13
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摘要:
搜索关键词: 一种 传感器 光电 性能 测试 装置
【说明书】:

实用新型涉及光传感器的技术领域,特别是涉及一种光传感器光电性能测试装置,其大大提高了实验结果的可靠性;包括底板、连接座、第一配合扣、第一转向扣、第二配合扣、振动仪和工作台,底板的底部设置有多组支柱,底板顶端安装有多组连接座,每组连接座上均设置有第一配合扣,第一转向扣位于第一配合扣上方,每组第一配合扣的顶端均通过第一转向扣与第二配合扣进行配合连接,每组第二配合扣上均设置有振动仪,振动仪的顶端连接设置有第三配合扣,工作台的底端安装有多组第四配合扣,且每组第四配合扣的底端均通过第二转向扣与第三配合扣的顶端进行配合连接。

技术领域

本实用新型涉及光传感器的技术领域,特别是涉及一种光传感器光电性能测试装置。

背景技术

众所周知,光传感器光电性能测试装置是一种用于测试光传感器性能的辅助装置,其在光传感器的领域中得到了广泛的使用;现有的光传感器光电性能测试装置使用中发现,无统一标准测试环境,可靠性较差。

实用新型内容

为解决上述技术问题,本实用新型提供一种大大提高了测试结果的可靠性的光传感器光电性能测试装置。

本实用新型的一种光传感器光电性能测试装置,包括底板、连接座、第一配合扣、第一转向扣、第二配合扣、振动仪和工作台,底板的底部设置有多组支柱,底板顶端安装有多组连接座,每组连接座上均设置有第一配合扣,第一转向扣位于第一配合扣上方,每组第一配合扣的顶端均通过第一转向扣与第二配合扣进行配合连接,每组第二配合扣上均设置有振动仪,振动仪的顶端连接设置有第三配合扣,工作台的底端安装有多组第四配合扣,且每组第四配合扣的底端均通过第二转向扣与第三配合扣的顶端进行配合连接。

本实用新型的一种光传感器光电性能测试装置,还包括工作台的顶端与安装台的底端连接,安装台的内部设置有卡槽。

本实用新型的一种光传感器光电性能测试装置,还包括固定台、高弹绷带和固定器,固定台的顶端与工作台的底端连接,高弹绷带安装在固定台上,并且高弹绷带的尾部设置有锁片,锁片与固定器通过锁合连接,固定器上设置有开关。

本实用新型的一种光传感器光电性能测试装置,每组支柱内部均设置有调平螺栓。

本实用新型的一种光传感器光电性能测试装置,每组调平螺栓的底端均设置有垫片。

本实用新型的一种光传感器光电性能测试装置,还包括支撑架,底板的底端安装有支撑架。

本实用新型的一种光传感器光电性能测试装置,底板的底部设置有多组脚轮,且脚轮上设置有制动片。

本实用新型的一种光传感器光电性能测试装置,还包括牵引环,牵引环安装在底板的右侧上。

与现有技术相比本实用新型的有益效果为:包括底板、连接座、第一配合扣、第一转向扣、第二配合扣、振动仪和工作台,底板的底部设置有多组支柱,底板顶端安装有多组连接座,每组连接座上均设置有第一配合扣,第一转向扣位于第一配合扣上方,每组第一配合扣的顶端均通过第一转向扣与第二配合扣进行配合连接,每组第二配合扣上均设置有振动仪,振动仪的顶端连接设置有第三配合扣,工作台的底端安装有多组第二配合扣,且每组第二配合扣的底端均通过第二转向扣与第三配合扣的顶端进行配合连接。

附图说明

图1是本实用新型的轴测结构示意图;

图2是本实用新型的前视结构示意图;

附图中标记:1、底板;2、连接座;3、第一配合扣;4、第一转向扣;5、第二配合扣;6、振动;7、第三配合扣;8、工作台;9、第四配合扣;10、第二转向扣;11、安装台;12、固定台;13、高弹绷带;14、固定器;15、开关;16、调平螺栓;17、垫片;18、支撑架;19、牵引环。

具体实施方式

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