[实用新型]直下式背光灯条铝基板通断耐压测试治具

说明书

本实用新型的直下式背光灯条铝基板通断耐压测试治具，设置有架体、插接套件及测试套件；扣接件的设置，使得工人在将耐压测试仪上的插接头插入插接槽内时，插接头的部分会顶持转动部相对插接座体转动，从而使得扣接部相对插接座体转动，进而使得扣接部与耐压测试仪上的插接头相卡接，从而防止提高了耐压测试仪上的插接头与插接座体之间的连接可靠性，防止插接头与插接座体之间发生松动；螺纹绕线部的设置，加大了与测试针的接触面积，从而增大了导线与测试针之间的摩擦力，进而防止测试针上的导线发生松卷；定位柱的设置，使得工人只需要将铝基板上的定位孔与定位柱相对齐，并使各个定位柱一一对应插入各个定位孔内，从而快速完成铝基板的定位。

技术领域

本实用新型涉及通断耐压测试治具技术领域，特别是涉及一种直下式背光灯条铝基板通断耐压测试治具。

背景技术

当前的液晶显示器主要有直下式和侧入式两种背光灯条植入方式，其中直下式背光灯条在制作过程中，在完成铝基板的切割及冲孔加工后，会在铝基板上分隔成若干直下式背光灯条铝基板，但是各个直下式背光灯条铝基板之间仍然有部分位置是互相连接的，随后，需要将整个铝基板放置于通断耐压测试治具上对各个背光灯条铝基板进行通断测试及耐压测试。

但是，现有的背光灯条铝基板的通断耐压测试治具在实际应用过程中，仍然存在以下的不足之处：第一，现有的测试治具上一般是通过插接组件与耐压测试仪连接的，具体的，插接组件包括插头及插座两部分，在实际使用过程中，插头及插座之间很容易发生松动，导致插头与插座之间很容易发生接触不良的情况，亦即测试治具与耐压测试仪之间的连接可靠性较低，最终导致测试结果出现误判；第二，现有的背光灯条铝基板通断耐压测试治具上并未设置有背光灯条铝基板的定位机构，依赖于人工对铝基板进行定位，如此，导致测试治具上的测试针无法准确对准各个背光灯条铝基板上的各个LED灯珠的导电引脚，导致工人需要反复调整整个铝基板的位置，非常的繁琐；第三，插接组件上一般是将插座设置于测试治具上的，单个插座对应与单个背光灯条的测试针连接，具体的，插座与测试针之间一般是通过导线连接的，导线的一端与插座连接，导线的另一端一般是缠绕于测试针上的，但是，测试针一般为圆柱状设计，测试针的外侧壁较为光滑，从而导致缠绕于测试针上的导线与测试针之间的摩擦力较小，进而导致测试针上的导线很容易发生松卷。

实用新型内容

本实用新型的目的是克服现有技术中的不足之处，提供一种与耐压测试仪之间的连接可靠性较高的，同时能够防止缠绕于测试针上的导线发生松卷的，还能够对铝基板进行定位的直下式背光灯条铝基板通断耐压测试治具。

本实用新型的目的是通过以下技术方案来实现的：

一种直下式背光灯条铝基板通断耐压测试治具，包括：

架体；

插接套件，所述插接套件包括插座载板、插接座体、扣接件及若干导电针，所述插座载板安装于所述架体上，所述插接座体设置于所述插座载板上，所述插接座体上开设有插接槽，所述扣接件包括转动部、联结部及扣接部，所述转动部转动设置于所述插接座体上，所述联结部设置于所述转动部上，所述扣接部设置于所述联结部上，各所述导电针均设置于所述插接槽内，相邻两个所述导电针之间设置有间隔；及

测试套件，所述测试套件包括若干定位柱及若干测试针，各所述定位柱分别设置于所述架体上，各所述测试针一一对应与各所述导电针连接，各所述测试针均包括顶持部、连接部、螺纹绕线部及限位部，所述顶持部设置于所述架体上，且所述顶持部用于与背光灯条铝基板相顶持，所述连接部的一端与所述顶持部连接，所述连接部的另一端与所述螺纹绕线部连接，所述限位部设置于所述连接部上。

在其中一种实施方式中，所述插接套件为轴对称结构。

在其中一种实施方式中，顺序连接各所述定位柱的中心位置形成矩形定位区，各所述测试针均位于所述矩形定位区内。