[实用新型]一种密度天平有效

专利信息
申请号: 201921841344.X 申请日: 2019-10-30
公开(公告)号: CN210982117U 公开(公告)日: 2020-07-10
发明(设计)人: 刘炜 申请(专利权)人: 南京伯尼塔科学仪器有限公司
主分类号: G01N9/08 分类号: G01N9/08;G01G19/62
代理公司: 杭州五洲普华专利代理事务所(特殊普通合伙) 33260 代理人: 丁少华
地址: 210000 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 密度 天平
【权利要求书】:

1.一种密度天平,包括密度天平主体(1),其特征在于:所述密度天平主体(1)的下侧设置有水平调节脚(2),所述密度天平主体(1)的基面中间处设置有称重托盘(3),所述密度天平主体(1)的基面前端中间处设置有水准仪(4),所述密度天平主体(1)的正面设置有控制面板(5),所述控制面板(5)的正面上侧设置有显示屏(6),所述控制面板(5)的正面并且位于显示屏(6)的下侧设置有控制按钮(7),所述称重托盘(3)的上侧设置有测量架(8),所述测量架(8)的下侧中间处设置有接触圆盘(9),所述测量架(8)的上侧中间处设置有安装槽(10),所述密度天平主体(1)的上侧并且贯穿测量架(8)设置有承载板(11),所述承载板(11)的上侧设置有量杯(12),所述密度天平主体(1)的左侧面左下侧设置有电源接头(13),所述测量架(8)通过安装槽(10)安装有测量组件(14),所述测量组件(14)包括上侧测量盘(15)、下侧测量盘(16)、连接柱(17),所述上侧测量盘(15)位于连接柱(17)的上侧设置,所述连接柱(17)的上侧壁并且位于上侧测量盘(15)的下侧设置有定位环(18),所述连接柱(17)的下侧通过连接拉杆(19)与下侧测量盘(16)连接。

2.根据权利要求1所述的一种密度天平,其特征在于:所述测量架(8)通过接触圆盘(9)与称重托盘(3)连接,所述测量架(8)与称重托盘(3)不接触。

3.根据权利要求1所述的一种密度天平,其特征在于:所述承载板(11)与接触圆盘(9)、测量架(8)均不接触放置设置。

4.根据权利要求1所述的一种密度天平,其特征在于:所述下侧测量盘(16)开设有均匀的通孔。

5.根据权利要求1所述的一种密度天平,其特征在于:所述水平调节脚(2)设置有4个,并且所述水平调节脚(2)设置有水平调节螺丝。

6.根据权利要求1所述的一种密度天平,其特征在于:所述密度天平主体(1)的内部设置有测量称重集成电路板。

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