[实用新型]集成通信功能的电源芯片测试电路

说明书

本实用新型公开了一种集成通信功能的电源芯片测试电路，该电路包括逻辑测试仪、电源芯片外围电路及用于连接待测试电源芯片的芯片座，所述逻辑测试仪与电源芯片外围电路连接，且逻辑测试仪与待测试电源芯片连接并通信，所述待测试电源芯片与电源芯片外围电路连接。本实用新型的电源芯片测试电路将电源芯片外围电路做到比较靠近待测试电源芯片，使电源芯片的外围环路尽量减小，同时通过逻辑测试仪对电源芯片外围电路的输出电压及对电源芯片的通信功能进行测试，由于逻辑测试仪的IO数量较多，可以进行多工位同时测试。本实用新型具有测试效率高、稳定性好的特点。

【技术领域】

本实用新型涉及电源芯片测试技术领域，特别涉及一种测试效率高且稳定性好的集成通信功能的电源芯片测试电路。

【背景技术】

电源类芯片主要用于进行电源转换，其广泛应用于各类电子设备中。随着电子设备功能的不断完善，电源类芯片通常集成各种不同功能的模块，例如，集成通信功能的电源芯片。电源芯片的好坏直接影响到电子设备的运行，目前市场上的电源类芯片通常采用模拟测试仪来实现，对于这种集成通信功能的电源芯片的来说，由于其芯片引脚比较多，而模拟测试仪的通道数有限，很难做到多工位测试，而且测试通信功能存在局限性。

【发明内容】

针对现有技术的不足，本实用新型旨在于提供一种测试效率高且稳定性好的集成通信功能的电源芯片测试电路。

本实用新型提供的一种集成通信功能的电源芯片测试电路，该电路包括逻辑测试仪、电源芯片外围电路及用于连接待测试电源芯片的芯片座，所述逻辑测试仪与电源芯片外围电路连接，且逻辑测试仪与待测试电源芯片连接并通信，所述待测试电源芯片与电源芯片外围电路连接。

所述逻辑测试仪通过I2C与待测试电源芯片通信。

所述逻辑测试仪设有多个用于控制待测试电源芯片的使能端及检测电源芯片外围电路(20)输出电压的IO端口。

所述电源芯片外围电路包括第一电阻R1，第二电阻R2，第一电感L1，第一电容C1及第二电容C2，所述第一电阻R1的一端分别与第二电阻R2的一端及待测试电源芯片连接，其另一端分别与第一电感L1的一端、第一电容C1的正极、第二电容C2的一端及逻辑测试仪连接，所述第二电阻R2的另一端接地，所述第一电感L1的另一端与待测试电源芯片连接，所述第一电容C1的负极及第二电容C2的另一端接地。

所述电源芯片外围电路包括第三电阻R3，第四电阻R4，第五电阻R5、第二电感L2，第三电容C3及第四电容C4，所述第三电阻R3的一端分别与第四电阻R4的一端及待测试电源芯片连接，其另一端分别与第二电感L2的一端、第三电容C3的正极、第四电容C4的一端、第五电阻R5的一端及逻辑测试仪连接，所述第四电阻R4的另一端及第五电阻R5的另一端接地，所述第二电感L2的另一端与待测试电源芯片连接，所述第三电容C3的负极及第四电容C4的另一端接地。

所述待测试电源芯片设有I2C通信接口及工作使能端。

多个所述电路集成于同一电路板上。

本实用新型的有益效果为：本实用新型的电源芯片测试电路将电源芯片外围电路做到比较靠近待测试电源芯片，使电源芯片的外围环路尽量减小，同时通过逻辑测试仪对电源芯片外围电路的输出电压及对电源芯片的通信功能进行测试，由于逻辑测试仪的IO数量较多，可以进行多工位同时测试。本实用新型具有测试效率高、稳定性好的特点。

【附图说明】

图1是本实用新型的原理框图。

图2是本实用新型的电源芯片外围电路图。

图3是本实用新型的另一种电源芯片外围电路图。

图4是本实用新型的测试流程图。

【具体实施方式】