[实用新型]探针支架及飞针测试机

说明书

本实用新型公开了一种探针支架及飞针测试机，其中，探针支架为大体上呈四边形的框架结构，包括：固定部、上横梁、下横梁以及安装部，固定部用于固定至主体结构上，安装部用于安装探针，上横梁和下横梁分别连接于固定部和安装部之间，上横梁、下横梁和固定部、安装部的每一个连接处均设置有两个相对的凹槽，使得每一个连接处相较于其两侧厚度明显减小，上横梁和下横梁上均开设有多个贯通的孔洞。本实用新型提供的探针支架，四边形的框架结构，连接处设置凹槽，减轻了探针支架的刚度，避免了测试过程中探针与焊盘硬接触，减轻了对焊盘表面的损伤；在探针支架上设置贯通孔，减轻了探针支架的重量；材质选用聚醚醚酮，有利于减轻探针支架的刚度。

技术领域

本实用新型涉及测量探针技术领域，具体地说，是一种探针支架及飞针测试机。

背景技术

如今，印制电路板上的元器件都在向极小型和复合型方向发展，随着SMT技术的广泛应用，印制电路板上元器件封装微型化、高密度化，故障呈现复杂化。由于集成电路产品的可靠性高，印制装配也都采用自动化流水线生产，使得印制电路板故障从元器件故障转向电路板开路、短路故障，因此对印制电路板的出货检测成为生产厂家和用户的品质要求。电路板的开短路测试一般采用飞针测试机，用两个探针分别触碰测试点，得出两测试点的导通性能。

测试时，探针移动到固定的待测试单元上，接触待测PCB的焊盘，从而测试PCB线路通断短路的情况。探针通常以每秒10～50次的速度下针和抬针以接触不同测试点，为达到可靠的测试效果，探针需牢固扎到焊盘上，同时，探针与焊盘的接触力又不能过大，避免焊盘表面被扎花。探针是通过支架固定于飞针测试机上的，支架的结构形式对探针的测试压力起到决定性作用。

传统焊盘的表面处理方式：电镀金、硬金等，表面有一定的硬度，接触后针印非常小，在30倍显微镜下是没有针印的。但随着新的技术发展，目前软金的表面处理逐渐增多，而且随着集成度的增加，焊盘大小也越来越小，越来越密集，对焊盘表面的针印要求越来越严格，要求在50倍显微镜下不得出现针印，目前的探针支架已无法对此类型产品进行测试。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是提供一种探针支架及飞针测试机，在保证测试效果的前提下，减轻对焊盘表面的损伤。

为解决上述技术问题，本实用新型提供了一种探针支架，用于安装探针，所述探针支架为大体上呈四边形的框架结构，包括：固定部、上横梁、下横梁以及安装部，所述固定部用于固定至飞针测试机的主体结构上，所述安装部用于安装探针，所述上横梁和下横梁为长条形杆件并平行设置，分别连接于所述固定部和安装部之间，所述上横梁、下横梁和所述固定部、安装部的每一个连接处均设置有两个相对的凹槽，使得每一个所述连接处相较于其两侧厚度明显减小，所述上横梁和下横梁上均开设有多个贯通的孔洞，探针支架的材质为聚醚醚酮。

进一步地，所述凹槽为圆弧形。

进一步地，所述连接处的最薄处的厚度为0.13~0.17mm。

进一步地，所述下横梁的长度大于所述上横梁。

进一步地，所述下横梁和上横梁靠近所述固定部一侧的厚度大于靠近安装部一侧的厚度。

进一步地，所述探针支架为一体注塑成型。

进一步地，所述凹槽为“U”形。

进一步地，在所述凹槽的底部还设置有圆弧形凹坑。

进一步地，所述连接处的内部埋设有板簧。

一种飞针测试机，包括上述的探针支架。

有益效果：