[实用新型]一种相对激光测厚仪

说明书

本实用新型涉及一种相对激光测厚仪，包括工作台，工作台具有用于放置测量件的测量件放置区域，测量件放置区域设有缺口；相对激光测厚仪还包括两个白光共焦位移传感器，每个白光共焦位移传感器包括一个激光测头，分别属于两个白光共焦位移传感器的两个激光测头相对且分别垂直设置在缺口的两侧。本实用新型对零件的测厚不基于工作台面，工作台面不平整或者零件表面的翘曲不影响测量结果。本实用新型能够极大地提高厚度的测量精度。

技术领域

本实用新型涉及光学测量技术领域，具体涉及一种相对激光测厚仪。

背景技术

传统的接触式测厚仪需要测量仪器与零件接触，接触式打点容易导致碰撞，且打点力度难以保证均匀，容易造成测量误差。现有的单激光打点主要以工作台面为基准，但工作台面不平或者测量件的接触面翘曲，都将会直接影像测量结果。

实用新型内容

针对现有技术的不足，本实用新型的目的是提供一种能够提高测量精度的相对激光测厚仪。

为实现本实用新型的目的，本实用新型提供了一种相对激光测厚仪，包括工作台，工作台具有用于放置测量件的测量件放置区域，测量件放置区域设有缺口；相对激光测厚仪还包括两个白光共焦位移传感器，每个白光共焦位移传感器包括一个激光测头，分别属于两个白光共焦位移传感器的两个激光测头相对且分别垂直设置在缺口的两侧。

进一步的技术方案是，白光共焦位移传感器还包括处理装置和光纤，光纤连接处理装置和激光测头；处理装置包括光源、分光器和受光元件，激光测头包括针孔和透镜组件；光源用于提供白光，光纤将白光传输到激光测头，白光穿过透镜组件，透镜组件使白光色散并使不同波长的光在激光侧头外侧在光轴不同位置聚焦；聚焦在测量件表面的光反射穿过针孔，光纤将穿过针孔的反射光传输到处理装置，反射光经过分光器由受光元件接受。

进一步的技术方案是，相对激光测厚仪还包括显示装置，显示装置用于显示根据受光元件接受的光计算得到的测量件的厚度。

进一步的技术方案是，显示装置还用于显示两个白光共焦位移传感器分别测得的测量件相对于基准面的厚度。

进一步的技术方案是，光源为白色LED。

进一步的技术方案是，针孔和透镜组件沿白光的传播方向依次设置。

进一步的技术方案是，相对激光测厚仪包括支架，两个激光测头连接在支架上，支架上设有导轨，工作台可沿导轨移动。

进一步的技术方案是，工作台水平设置，导轨在水平方向上延伸，两个激光侧头连接在工作台的上下两侧。

进一步的技术方案是，工作台连接有滑块，滑块与导轨配合。

进一步的技术方案是，缺口周围设有垫板，垫板用于放置测量件。

与现有技术相比，本实用新型能够取得以下有益效果：

1. 本实用新型的相对激光测厚仪采用双激光对射测量零件的厚度，属于非接触式测厚，适用于玻璃、手机盖板、陶瓷面板等零件的厚度测量，能够快速测量厚度尺寸。与传统接触式测厚仪相比，本实用新型避免了接触式打点、碰撞、力度不均匀造成的测量误差。与单激光打点测厚方法相比，本实用新型对零件的测厚不基于工作台面，工作台面不平整或者零件表面的翘曲不影响测量结果。本实用新型能够极大地提高厚度的测量精度。

2. 本实用新型的相对激光测厚仪的工作台可以相对于支架移动，通过移动工作台进而移动测量件，能够对测量件上的多个点位置进行测量，或者能够对测量件进行扫描。测量件的厚度能够及时通过显示装置显示出来，并且还测量件在基准面的两侧的相对厚度也行显示出来，测量件的厚度以及弯曲情况能够直观显示。

3. 本实用新型的相对激光测厚仪采用白光共焦位移传感器，投光和受光配置在同一个轴上，激光工作距离为15mm，测量精度比三角激光算法更准确，且不受倾斜角度或反光面影响。