[实用新型]一种三极管阵列器件测试单元及装置有效
申请号: | 201921234082.0 | 申请日: | 2019-07-31 |
公开(公告)号: | CN210894598U | 公开(公告)日: | 2020-06-30 |
发明(设计)人: | 左洪涛;贾民杰;宁凯;张凡 | 申请(专利权)人: | 航天科工防御技术研究试验中心 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26 |
代理公司: | 北京风雅颂专利代理有限公司 11403 | 代理人: | 李弘 |
地址: | 100085*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 三极管 阵列 器件 测试 单元 装置 | ||
本实用新型公开了一种三极管阵列器件测试单元及装置,用于对三极管阵列器件进行测试,三极管阵列器件包括四个三极管,测试单元包括:第一电源、第二电源、保险管、检测电阻、功率电阻、负载电阻、第一滤波电容、第二滤波电容;功率电阻的第一端与检测电阻、保险管、第一电源、第二电源、负载电阻的第一端相串联,功率电阻的第二端与所述四个三极管的集电极相连接,负载电阻的第二端与四个三极管的发射极相连接,第一电源的负极端与四个三极管的基极相连接,第一滤波电容与第一电源并联,滤波电容与第二电源并联。本实用新型能够对三极管阵列器件进行可靠性测试。
技术领域
本实用新型涉及电子器件技术领域,特别是指一种三极管阵列器件测试单元及装置。
背景技术
老炼试验能够缩短器件早期失效的时间,能充分暴露器件绝大部分的失效机理,是提高器件使用可靠性的有效措施。如图1所示,型号为FD5748的三极管阵列器件内部封装了四个参数性能完全一致的三极管,输出电流较大,输出功率耗散较高,且器件采用DIP-14封装形式,对该三极管阵列器件进行老炼试验的难度较大,目前尚没有对该三极管阵列器件进行老炼试验的测试装置。
实用新型内容
有鉴于此,本实用新型的目的在于提出一种三极管阵列器件测试单元及装置,能够对三极管阵列器件进行可靠性测试。
基于上述目的本实用新型提供的一种三极管阵列器件测试单元,用于对三极管阵列器件进行测试,所述三极管阵列器件包括四个三极管,测试单元包括:
第一电源、第二电源、保险管、检测电阻、功率电阻、负载电阻、第一滤波电容、第二滤波电容;
所述功率电阻的第一端与所述检测电阻、保险管、第一电源、第二电源、负载电阻的第一端相串联,所述功率电阻的第二端与所述四个三极管的集电极相连接,所述负载电阻的第二端与所述四个三极管的发射极相连接,所述第一电源的负极端与所述四个三极管的基极相连接,所述第一滤波电容与所述第一电源并联,所述滤波电容与所述第二电源并联。
可选的,所述三极管阵列器件的型号为FD5748。
本实用新型提供一种三极管阵列器件测试装置,包括多个所述三极管阵列器件测试单元。
可选的,所述测试装置基于PCB电路板实现,所述PCB电路板上配置32个所述三极管阵列器件测试单元。
可选的,所述三极管阵列器件通过铍青铜指形簧片结构的插座与所述三极管阵列器件测试单元电性连接。
可选的,所述三极管阵列器件的安装方向与通风风向垂直。
可选的,所述三极管阵列器件测试单元的负载电阻和功率电阻分散布设于所述PCB电路板上。
可选的,所述PCB电路板的焊盘的宽度为所述插座的引脚直径的二倍。
可选的,所述焊盘的宽度为1.6mm。
可选的,电路引线的宽度为17.5mm。
从上面所述可以看出,本实用新型提供的三极管阵列器件测试单元及装置,测试单元能够对包括四个三极管的三极管阵列器件进行可靠性测试,测试装置能够同时对32个三极管阵列器件进行可靠性测试,且散热性能良好。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本实用新型实施例的三极管阵列器件的电路结构示意图;
图2为本实用新型实施例的测试单元的电路原理结构示意图;
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