[实用新型]一种基于光电测量的千分表有效
申请号: | 201921231429.6 | 申请日: | 2019-07-31 |
公开(公告)号: | CN210070775U | 公开(公告)日: | 2020-02-14 |
发明(设计)人: | 唐臻宇;王佶 | 申请(专利权)人: | 成都太微电子科技有限公司 |
主分类号: | G01B3/22 | 分类号: | G01B3/22 |
代理公司: | 51221 四川力久律师事务所 | 代理人: | 刘童笛 |
地址: | 610041 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光敏组件 测量杆 光源接收部件 光电测量 测量 千分表 遮光板 光源 装配 测量仪器领域 本实用新型 测量成本 发射光束 接收光束 轴向移动 工作量 合成 中断 | ||
本实用新型涉及测量仪器领域,具体涉及一种基于光电测量的千分表,包括:至少一组光敏组件,光敏组件包括对应设置的光源和光源接收部件,光源用于发射光束、光源接收部件用于接收光束;测量杆,能够沿自身轴向移动,测量杆上连接有遮光板,遮光板通过阻断光敏组件中的光束来测量粗读数。本方案所述的一种基于光电测量的千分表,通过测量杆同时带动光敏组件和精测组件分别粗读数和精读数,最后合成被测数据,稳定性好,装配简单,装配成本低,同时,能够避免在计数中断后重新测量粗读数,减少了重新测量被测读数的工作量,减少了因重测而造成的测量成本。
技术领域
本实用新型涉及测量仪器领域,具体涉及一种基于光电测量的千分表。
背景技术
数显千分表通常为通过容珊、光栅、电感等元件直接测量直线位移并输出至显示模块显示读数的长度测量仪器。
由千分表测量的被测数据分为两部分,即粗读数和精读数,其中,粗读数为基础读数,精读数能够显示其数据的精度,精读数的精度及范围与两个粗读数之间的数值差相对应。
例如:两个粗读数之间的数值差为0.2,最终被测数据为3.453,则其中,粗读数“3.4”,精读数为“0.053”;
例如:两个粗读数之间的数值差为0.2,最终被测数据为3.553,则其中,粗读数“3.4”,精读数为“0.153”,也可视为,粗读数“3.6”,精读数为“-0.047”;
例如:两个粗读数之间的数值差为1,最终被测数据为3.453,则其中,粗读数“3”,精读数为“0.453”,也可视为,粗读数“4”,精读数为“-0.547”。
目前,现有的数显千分表普遍利用容栅,光栅等电子元件将精读数和粗读数一体测量,即直接将直线位移转换电信号输出,得到被测数据,能够有效地减少操作机械千分表时容易引起的人为误差,所以越来越受用户的喜爱,但是由于其基于容栅,光栅的自身特性进行计量,故对其上不同零部件的相互配合精度要求高,造成装配难度大,装配成本高的缺点。
同时,现有的数显千分表中大多数为相对式,而相对式数显千分表普遍通过累加脉冲数来计数测量,故在使用数显千分表的过程中,当遇到突然断电或者遇到电磁干扰时,其测量计数会出现中断,累加脉冲会自动清零,无法记录中断前的累加脉冲数量,故无法恢复中断前的读数,导致必须重新测量读数,费时费力,增加了测量成本。
综上所述,目前需要一种数显千分表,能够利用不同的部件分别测量粗读数和精读数,以降底装配难度及装配成本,同时,用于测量粗读数的零部件在测量中断之后,能够恢复中断前的粗读数,以避免重新测量粗读数,从而,减少重新测量被测读数的工作量,减少因重测而造成的测量成本。
实用新型内容
针对现有技术存在的机械千分表容易因人为原因造成读数不准确;数显千分表装配难度大,装配成本高,同时,其中的相对式数显千分表在测量计数出现中断后,无法恢复中断前的读数,导致必须重新测量读数,费时费力,增加了测量成本的问题,本实用新型提供了一种基于光电测量的千分表,能够利用不同的部件分别测量粗读数和精读数,以降底装配难度及装配成本,同时,用于测量粗读数的零部件不受突然断电或者遇到电磁干扰的影响,以避免重新测量粗读数,从而,减少重新测量被测读数的工作量,减少因重测而造成的测量成本。
为了实现上述目的,本实用新型采用的技术方案为:
一种基于光电测量的千分表,包括:
至少一组光敏组件,所述光敏组件包括对应设置的光源和光源接收部件,所述光源用于发射光束、所述光源接收部件用于接收所述光束;
测量杆,用于与被测物体相接触,且能够沿自身轴向移动,所述测量杆上连接有遮光板,所述遮光板通过阻断所述光敏组件中的光束来测量粗读数;
精测组件,用于根据所述测量杆的轴向位移来测量精读数,所述精测组件与所述测量杆相配合。
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