[实用新型]一种集成电路测试装置

权利要求书

1.一种集成电路测试装置，包括机身(1)、控制按钮(5)、接线口(6)、显示屏(7)和测试口(8)，其特征在于：所述机身(1)内壁上设置有滑动槽(2)，所述滑动槽(2)内部内嵌有滑动块(3)，所述滑动块(3)固定连接有活动板(4)，所述机身(1)后方设置有控制按钮(5)和接线口(6)，所述机身(1)正面右侧设置显示屏(7)，所述机身(1)正面左侧设置有测试口(8)，所述测试口(8)上设置有开关(9)，所述开关(9)底端固定连接有第一转动轴(11)，所述第一转动轴(11)上焊接有第一齿轮(10)，所述第一齿轮(10)齿合连接有第二齿轮(12)，所述第二齿轮(12)右侧固定连接有第二转动轴(13)，所述第二转动轴(13)上固定连接有铜片(14)。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述滑动槽(2)和滑动块(3)均设置有四组，所述滑动槽(2)与滑动块(3)形状相同为等腰梯形，所述滑动槽(2)与滑动块(3)构成滑动式结构。

3.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述活动板(4)内嵌于机身(1)，且活动板(4)形状为矩形。

4.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述第二转动轴(13)右端套接有固定块，且限位块固定于测试口(8)内壁上。

5.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述铜片(14)之间均设置有隔板(15)，所述隔板(15)皆固定连接于测试口(8)内壁上。

6.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述机身(1)内壁左右两侧均设置有限位块。