[实用新型]一种单层片式瓷介电容器测试夹具有效

专利信息
申请号: 201920966436.4 申请日: 2019-06-26
公开(公告)号: CN210572386U 公开(公告)日: 2020-05-19
发明(设计)人: 张鹏远;尚超红;张希涛;陈德舜;沈忠梅;阳华远;王利凯 申请(专利权)人: 中国振华集团云科电子有限公司;贵州振华电子信息产业技术研究有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04
代理公司: 昆明合众智信知识产权事务所 53113 代理人: 张玺
地址: 550000 贵州省贵*** 国省代码: 贵州;52
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摘要:
搜索关键词: 一种 单层 片式瓷介 电容器 测试 夹具
【说明书】:

实用新型公开了一种单层片式瓷介电容器测试夹具,包括底板,底板上设有四角支柱,四角支柱上方设有下夹具座,下夹具座上规则横向间隔设有若干夹具槽,下夹具座底部对应各夹具槽下方分别贯通连接设有下测试连接器,底板中部侧边垂直设有支板,支板中部垂直设有导轨,导轨上活动滑设有滑块,滑块前侧位于下夹具座正上方固定连接设有上夹具座,上夹具座上对应各夹具槽位置上方分别贯通设有上测试连接器,上夹具座中部上方设有活动柱,支板顶部位于导轨上方固定设有放置板,放置板上设有活动按压把手,活动柱穿设过放置板并与活动按压把手相互连接。

技术领域

本实用新型涉及夹具领域,尤其涉及一种单层片式瓷介电容器测试夹具。

背景技术

单层片式瓷介电容器具有体积小、型号多、应用频率高等特点,广泛应用在在电子对抗、雷达、导航、制导和卫星通讯等方面。用户在选用时比较关注单层片式瓷介电容器的高频性能,这就要求单层片式瓷介电容器生产厂家对不同型号的产品进行高频性能测量和监控,单层片式瓷介电容器高频参数测量夹具在目前还不够完善。

实用新型内容

本实用新型的目的在于,克服现有技术的上述缺陷,提供一种单层片式瓷介电容器测试夹具。

为实现上述目的,本实用新型提供的技术方案如下:一种单层片式瓷介电容器测试夹具,包括底板,底板上设有四角支柱,四角支柱上方设有下夹具座,下夹具座上规则横向间隔设有若干夹具槽,下夹具座底部对应各夹具槽下方分别贯通连接设有下测试连接器,底板中部侧边垂直设有支板,支板中部垂直设有导轨,导轨上活动滑设有滑块,滑块前侧位于下夹具座正上方固定连接设有上夹具座,上夹具座上对应各夹具槽位置上方分别贯通设有上测试连接器,上夹具座中部上方设有活动柱,支板顶部位于导轨上方固定设有放置板,放置板上设有活动按压把手,活动柱穿设过放置板并与活动按压把手相互连接。

进一步的,下夹具座位于夹具槽前侧横向开设有活动槽,活动槽上活动滑设有观察板,观察板上设有放大镜。

进一步的,下夹具座底部一侧还设有线管,下测试连接器分别设有测试传输线,测试传输线另一端分别由线管穿过并与矢量网络分析仪相连接。

进一步的,活动按压把手包括固定座,固定座侧方活动连接设有第一弹片,第一弹片另一端活动连接设有把手,把手与第一弹片连接端设有活动腔,把手位于活动腔侧方固定设有第二弹片,第二弹片另一端与活动柱顶端相互连接。

进一步的,夹具槽前侧分别设有数字标识。

本实用新型的有益之处是:结构简单,能够方便高效的对多个单层片式瓷介电容器性能进行测试。

附图说明

图1是本实用新型一种单层片式瓷介电容器测试夹具的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图及较佳实施例就本实用新型的技术方案作进一步的说明。

如图1所示,本实用新型所述的一种单层片式瓷介电容器测试夹具,包括底板1,底板1上设有四角支柱2,四角支柱2上方设有下夹具座3,下夹具座3上规则横向间隔设有若干夹具槽31,下夹具座3底部对应各夹具槽31下方分别贯通连接设有下测试连接器32,底板1中部侧边垂直设有支板4,支板4中部垂直设有导轨41,导轨41上活动滑设有滑块42,滑块42前侧位于下夹具座3正上方固定连接设有上夹具座5,上夹具座5上对应各夹具槽31位置上方分别贯通设有上测试连接器51,上夹具座5中部上方设有活动柱52,支板4顶部位于导轨41上方固定设有放置板6,放置板6上设有活动按压把手,活动柱52穿设过放置板6并与活动按压把手相互连接。

进一步的,下夹具座3位于夹具槽31前侧横向开设有活动槽71,活动槽71上活动滑设有观察板72,观察板72上设有放大镜73。通过放大镜73能够在单层片式瓷介电容器安装时方便观察进行安装并且方便观察测试时观察单层片式瓷介电容器测试过程。

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