[实用新型]颗粒物平行采样装置有效

专利信息
申请号: 201920829957.5 申请日: 2019-06-04
公开(公告)号: CN210375860U 公开(公告)日: 2020-04-21
发明(设计)人: 晁良俊;孟赟;张健;李捷;田新愿;余言雨;董少伟;董凡 申请(专利权)人: 上海贝瑟环保科技有限公司
主分类号: G01N1/18 分类号: G01N1/18
代理公司: 上海脱颖律师事务所 31259 代理人: 李强
地址: 200086 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 颗粒 平行 采样 装置
【说明书】:

实用新型公开了一种颗粒物平行采样装置,包括采样头、分流室、换膜装置、流量控制单元以及抽气装置,所述采样头连通于所述分流室,所述分流室连通于所述换膜装置,所述抽气装置连通于所述换膜装置,所述流量控制单元设于所述换膜装置与所述抽气装置之间。本实用新型结构简明,便于实际操作换膜,并有效改善采样的均匀性,减少滤膜在空气中暴露的时间从而降低采样的干扰。

技术领域

本实用新型涉及一种颗粒物平行采样装置。

背景技术

大气颗粒物是大气成分中的重要组成部分,给环境、气候以及人体健康带来很大威胁:颗粒物对太阳光有吸收和散射效应,导致大气能见度下降,是灰霾产生等大气污染现象的主要诱导因素之一。为了能更好地采取有效措施控制颗粒物各种排放源类,研究学者和管理者们迫切需要对环境颗粒物的各类来源进行识别和量化研究,颗粒物源解析技术应运而生并得到越来越多的应用和逐步发展完善。

颗粒物源解析技术是对环境空气颗粒物的来源进行定性或定量研究的技术,是颗粒物污染防治的重要技术手段,它可以建立颗粒物排放源与环境空气质量(受体)的之间的关系,识别颗粒物的主要来源,并定量解析各源类对颗粒物的贡献。用源解析的结果指导颗粒物污染防治工作,可以提高颗粒物污染防治的针对性、科学性和合理性。

随着源解析工作的发展,大气颗粒物来源解析技术先后出现了三种方法:排放源清单方法、源模型(扩散模型)法和受体模型法。其中,应用最为广泛的是受体模型法,是从环境受体出发,根据环境空气颗粒物的化学、物理特征等信息估算各类污染源对受体的贡献。受体模型法大气颗粒物来源解析技术其中最为基础的就是针对大气中颗粒物的采样技术。

目前,国内外针对大气中颗粒物的采样器主要有以下多种分类:1.按照采样流量大小分类可分为大流量采样器(1m3/min及以上)、中流量采样器(100L/min左右)及小流量采样器(16.67L/min及以下)2.根据换模方式可分为自动换模和手动换模;3.根据切割器不同可分为旋风式(cyclone)和撞击式(impact);4.根据分级次数可分为单级采样器和分级采样器;5根据采样通道可分为单通道、双通道及多通道;6.多通道采样器又有共用切割器和独立切割器区分。受体模型法大气颗粒物来源解析技术需要同时采集多张滤膜,进行相关化学、物理特征等分析,故需要多通道采样器。而现有的多通道采样器大多为四通道采样器,各通道独立进样口,独立切割器和独立流量控制,普遍存在各通道间的平行性难以确保、采样器体积大、分量重和更换滤膜复杂等缺陷。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了克服现有技术中的不足,提供一种颗粒物平行采样装置。

为实现以上目的,通过以下技术方案实现:

一种颗粒物平行采样装置,包括采样头、分流室、换膜装置、流量控制单元以及抽气装置,所述采样头连通于所述分流室,所述分流室连通于所述换膜装置,所述抽气装置连通于所述换膜装置,所述流量控制单元设于所述换膜装置与所述抽气装置之间。

优选地,所述分流室呈锥形,内部设有防吸附镜面。

优选地,所述换膜装置包括上盖、下盖、可抽拉的滤膜放置板及弹性支撑体,所述滤膜放置板活动设于所述上盖与所述下盖之间,所述弹性支撑体顶撑于所述下盖。

优选地,所述换膜装置的底部设有底座,所述底座上设有支撑柱,所述上盖设于所述支撑柱的顶端,所述支撑柱穿过所述下盖且所述下盖可沿所述支撑柱上下活动地设置,所述弹性支撑体设于所述底座与所述下盖之间。

优选地,所述滤膜放置板上下贯通以供叠放多张滤膜,所述滤膜放置板的内部均匀分布有多个采样通道。

优选地,每个所述采样通道内设有密封圈及滤膜夹,所述采样通道的内壁设有螺纹,通过所述滤膜夹配合所述螺纹将所述滤膜夹设于所述密封圈上。

优选地,所述滤膜放置板上设有抽拉把手。

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