[实用新型]一种芯片外观检测装置

说明书

本实用新型公开了一种芯片外观检测装置，该芯片外观检测装置包括安装座，安装座上设有第一升降组件、第二升降组件、光源、光源支架、检测相机、相机支架，光源与光源支架连接，光源支架与第一升降组件连接，检测相机与相机支架连接，相机支架与第二升降组件连接，检测相机设于光源下方，用于对光源上方的芯片进行检测。本实用新型的芯片外观检测装置可以将对芯片表面的缺陷进行检测，可根据需要调节光源和检测相机的高度，操作方便，可以有效提高检测效率。

技术领域

本实用新型涉及缺陷检测技术领域，特别涉及一种芯片外观检测装置。

背景技术

表面缺陷检测是指采用机器视觉检测技术，利用检测相机对工件表面的斑点、凹坑、划痕、色差、缺损等缺陷进行检测。

芯片在出厂前同样需要对其外观进行检测，而现有的芯片检测设备大多存在结构复杂，调节不便的问题，带来的结果自然是检测效率低下，已不能满足芯片大批量检测的需求。

实用新型内容

针对现有技术的不足，本实用新型目的在于提供一种结构简单，调节方便，检测效率高的芯片外观检测装置。其采用如下技术方案：

一种芯片外观检测装置，包括安装座，所述安装座上设有第一升降组件、第二升降组件、光源、光源支架、检测相机、相机支架，所述光源与光源支架连接，所述光源支架与第一升降组件连接，所述检测相机与相机支架连接，所述相机支架与第二升降组件连接，所述检测相机设于光源下方，用于对光源上方的芯片进行检测。

作为本实用新型的进一步改进，所述安装座上还设有竖直滑轨，所述竖直滑轨上设有第一滑动座，所述光源支架与所述第一滑动座连接，所述第一升降组件包括第一丝杆、第一滑块，所述第一丝杆的两端均通过轴承与安装座连接，所述第一滑块套设于所述第一丝杆上，所述第一滑块通过第一连接板与所述第一滑动座连接。

作为本实用新型的进一步改进，所述第一丝杆的底部设有第一调节旋钮。

作为本实用新型的进一步改进，所述竖直滑轨上还设有第二滑动座，所述第二滑动座设于第一滑动座下方，所述相机支架与所述第二滑动座连接，所述第二升降组件包括第二丝杆、第二滑块，所述第二丝杆的两端均通过轴承与安装座连接，所述第二滑块套设于所述第二丝杆上，所述第二滑块通过第二连接板与所述第二滑动座连接。

作为本实用新型的进一步改进，所述第二丝杆的底部设有第二调节旋钮。

作为本实用新型的进一步改进，所述光源为环状光源。

作为本实用新型的进一步改进，所述光源支架包括导光筒，所述光源环状设于所述导光筒上方开口处，所述检测相机设于所述导光筒的底部开口处。

作为本实用新型的进一步改进，所述导光筒为管状。

本实用新型的有益效果：

本实用新型的芯片外观检测装置可以将对芯片表面的缺陷进行检测，可根据需要调节光源和检测相机的高度，操作方便，可以有效提高检测效率。

上述说明仅是本实用新型技术方案的概述，为了能够更清楚了解本实用新型的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本实用新型的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举较佳实施例，并配合附图，详细说明如下。

附图说明

图1是本实用新型实施例中芯片外观检测装置的结构示意图一；

图2是本实用新型实施例中芯片外观检测装置的结构示意图二；

图3是本实用新型实施例中芯片外观检测装置的正视图；

图4是本实用新型实施例中芯片外观检测装置的侧视图；

图5是本实用新型实施例中芯片外观检测装置的后视图。