[实用新型]一种压针式U盘开卡测试架

说明书

本实用新型涉及一种压针式U盘开卡测试架，包括：箱体，其内部具有放置电路板和供电装置的腔体；盖板，固定于所述箱体上，所述盖板与所述箱体设有平行于所述盖板向外延伸开口的测试槽；支撑架，其背向所述测试槽的一面固定有若干主控板，每个所述主控板上固定有控制芯片，每个所述主控板穿过所述盖板向所述测试槽内延伸有若干顶针，所述顶针每四个为一组，所述支撑架相对于所述箱体可升降设置以使所述顶针在所述测试槽内伸缩；托盘，所述托盘与所述测试槽形成抽屉式结构，所述托盘面向所述支撑架的一面设有用于限位固定U盘的卡槽，所述托盘设置为当所述托盘推入所述测试槽内的极限位置时所述顶针伸出接触连接所述卡槽中的U盘。

技术领域

本实用新型涉及U盘开卡测试技术领域，尤其涉及一种压针式U盘开卡测试架。

背景技术

U盘是一种存储设备,内容是可以反复更换和擦除的。U盘开卡，即U盘量产，是对U盘写入数据，一般把U盘分为2个部分,其中的一部分模拟成光驱读光盘的形式(只读形式),另一种还是保持U盘的正常读写功能。

工程对U盘进行大批量的开卡，采用传统的USB接入信号方式即插拔方式进行测试，效率低下，会大大刮花损伤U盘FLASH上的金手指，造成不必要的损失。

实用新型内容

鉴于上述状况，有必要提供一种能减少损伤FLASH金手指的压针式U盘开卡测试架。

为了解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案为：一种压针式U盘开卡测试架，包括：箱体，其内部具有放置电路板和供电装置的腔体；盖板，固定于所述箱体上，所述盖板与所述箱体设有平行于所述盖板向外延伸开口的测试槽；支撑架，其背向所述测试槽的一面固定有若干主控板，每个所述主控板上固定有控制芯片，每个所述主控板穿过所述盖板向所述测试槽内延伸有若干顶针，所述顶针每四个为一组，所述支撑架相对于所述箱体可升降设置以使所述顶针在所述测试槽内伸缩；托盘，所述托盘与所述测试槽形成抽屉式结构，所述托盘面向所述支撑架的一面设有用于限位固定U盘的卡槽，所述托盘设置为当所述托盘推入所述测试槽内的极限位置时所述顶针伸出接触连接所述卡槽中的U盘。

进一步的，所述主控板为多组，每组所述主控板设有对应的开关。

进一步的，所述支撑架为手摇式升降结构，所述箱体在所述测试槽的右侧面延伸有手摇扳手。

进一步的，所述手摇扳手向上设置，所述手摇扳手设定为向所述测试槽的开口方向转动10-90度时所述支撑架向所述箱体靠近使所述顶针与所述U盘接触连接。

进一步的，所述卡槽形成矩形阵列，所述顶针与所述卡槽相适配。

进一步的，所述托盘设有伸出所述测试槽的提手部。

进一步的，所述支撑架四角分别设有伸缩柱。

本实用新型的有益效果在于：使用顶针方式与U盘接触连接，推入托盘后支撑架下降，顶针下降伸出与U盘接触连接，减少了与金手指的接触面，且接触无摩擦，减少了U盘FLASH金手指刮伤受损。

附图说明

图1是本实用新型实施例的一种压针式U盘开卡测试架的结构示意图；

图2是本实用新型实施例的一种压针式U盘开卡测试架的托盘的结构示意图；

图3是本实用新型实施例的一种压针式U盘开卡测试架的升降结构的示意图。

标号说明：

100 箱体

110 测试槽

200 盖板

300 支撑架

310 主控板

311 控制芯片