[实用新型]一种快中子筛选装置

说明书

本实用新型提出了一种快中子筛选装置，其闪烁体组件完全展开，形成一个圆环，第一电机再驱动闪烁体组件匀速的转动，这时中子发生源向闪烁体组件的入射表面发射中子束，使大于一个周期内发射的中子束能完全射向闪烁体组件，这样闪烁体组件上就能发光，并通过光检测器产生电信号，并把该电信号发送给微处理器，由于快中子会区别于其他中子，具有更大的能量，这样接收到快中子的光检测元件就能发出更强的信号，微处理器接收该电信号，并进行存储和处理，微处理器根据记录的规律性变化的强弱的电信号来计算出中子束流的脉冲周期。

技术领域

本实用新型涉及一种快中子筛选装置。

背景技术

散裂中子源是通过加速器驱动高能质子轰击重金属靶体，从而得到高中子通量的中子束流。先进的中子源是中子科学研究的基础，能够为物质微观结构和运动状态的研究提供必要的工具。质子加速轰击钨靶产生出脉冲中子束流，同时也产生了快中子束。快中子束在每个中子束流脉冲周期的零时刻发出，随中子束流传输，如果全部到达样品，会对测试结果造成很大的背底，在不同研究和实验需要的中子束流波段不尽相同，因此，在快中子束流传输过程中，需要设计一种装置对快中子进行滤除，而又能放行需要的脉冲中子流束。

专利号为2017200036286的专利公开了一种散裂中子源快中子滤除装置，但是该专利所公开的装置无法对事先对中子束流脉冲周期进行测试，需要借助外部第三方设备来进行中子束流脉冲周期的测试，这就给设备的使用带来了诸多不便。

实用新型内容

针对背景技术中指出的问题，本实用新型提出一种可对中子束流脉冲周期进行测试，从而自动调整过滤掉快中子的快中子筛选装置。

本实用新型的技术方案是这样实现的：

一种快中子筛选装置，包括壳体、中子发生源、闪烁体组件和第一电机，所述壳体为密闭壳体，中子发生源安装在壳体内一侧上部，中子发生源对应侧壳体壁上设有中子束窗，闪烁体组件竖直设置于壳体内中部，闪烁体组件的轴心位于中子发生源水平轴线下部，且中子发生源对应闪烁体组件正面位置，第一电机水平安装在壳体内部另一侧，第一电机的驱动轴与闪烁体组件中心连接；

所述的闪烁体组件为圆形，闪烁体组件包括闪烁体层、第一骨架、中间骨架、第二骨架、圆环形的膜、阻挡吸附层、第二电机，膜上沿其径向设有断开槽，第一骨架和第二骨架分别与断开槽两侧的膜的端部连接，中间骨架设有多个，中间骨架位于第一骨架和第二骨架之间并分别与膜连接，第一骨架与驱动轴固定连接，中间骨架和第二骨架与驱动轴形成转动连接，闪烁体层设置在膜的正面，阻挡吸附层设置在膜的背面，第二电机固定安装在驱动轴上，第二电机可驱动第二骨架转动；

还包括光检测器和微处理器，光检测器具有若干个光纤和若干个光检测元件，光纤对应闪烁体层设置，若干个光检测元件对应于光纤设置，光检测元件与微处理器连接，微处理器可根据接收到的若干个光检测元件的电信号而计算出中子束流的脉冲周期信息，微处理器根据所述的脉冲周期信息来调控第一电机的转速及第二电机驱动第二骨架转动的角度。

本实用新型还进一步设置为，还包括与微处理器连接的触摸显示器。

本实用新型还进一步设置为，所述的壳体的上部设有抽真空管。

本实用新型还进一步设置为，所述的壳体的内腔壁上设有碳化硼吸附层。

本实用新型还进一步设置为，所述的壳体两侧壁底部对称布置有对射式光电传感器，光电传感器的水平轴线位于转盘竖直方向盘面的扇形槽口位置。

本实用新型还进一步设置为，相邻的两个中间骨架之间设有缩带，缩带使相邻的两个中间骨架收拢在一起。

本实用新型的有益效果：

本实用新型提供的快中子筛选装置，其可对中子束流脉冲周期进行测试，从而自动调整过滤掉快中子的快中子筛选装置，其使用简单，工作高效。