[实用新型]NAND闪存测试治具

说明书

本实用新型提供一种NAND闪存测试治具，包括：线路板、通讯接口、至少一TSOP48端子板和对应个数的M Key连接器，所述TSOP48端子板、所述M Key连接器和与每一M Key连接器连接的所述通讯接口均设置在线路板上，每一TSOP48端子板包括一读/写功能扩展定义引脚和至少一片选功能扩展定义引脚并连接到对应的M Key连接器；各TSOP48端子板分别用于可插拔地连接待测试NAND闪存芯片；各M Key连接器分别用于可拆卸地连接与待测试NAND闪存芯片对应的主控板。根据本实用新型的技术方案，将该测试治具作为母板，并仅通过更换不同方案的主控板子板就可以实现对不同方案商的NAND闪存的筛选测试量产，可以减少治具的重复投入，大大降低了投入成本，实用性强。

技术领域

本实用新型涉及闪存技术领域，尤其涉及一种NAND闪存测试治具。

背景技术

闪存(FLASH)的应用广阔，可以运用在如移动存储、5G、物联网、车联网以及人工智能等不同的领域，随着NAND闪存的制造工艺的不断更新，产量的不断增加，不良率的不断上升，NAND闪存控制器厂商需要更换新的控制器来进行调试，同时终端厂商也需要投入新的测试治具进行筛选测试。

目前市场上存在众多的闪存控制器芯片应用方案商，每一家的方案都只针对自家的控制器进行调试，并利用自家方案的主控量产工具对闪存进行批量地筛选测试等。由于NAND闪存在不断地发展更新，方案主控也在不断地跟进，新的方案主控必然会淘汰旧的测试治具，对于终端厂商而言，将需要不断投入新的测试治具来对NAND闪存进行筛选测试，这将造成极大的资源浪费并且增加了巨大的成本。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型的目的是为了克服现有技术中的不足，提供一种NAND闪存测试治具。

本实用新型的实施例提供一种NAND闪存测试治具，包括：线路板、通讯接口、至少一TSOP48端子板和对应个数的M Key连接器，所述至少一TSOP48端子板、所述对应个数的MKey连接器和与每一M Key连接器连接的所述通讯接口均设置在所述线路板上，每一所述TSOP48端子板包括一读/写功能扩展定义引脚和至少一片选功能扩展定义引脚，所述读/写功能扩展定义引脚和所述至少一片选功能扩展定义引脚均连接到对应的M Key连接器；

各所述TSOP48端子板分别用于可插拔地连接待测试NAND闪存芯片；

各所述M Key连接器分别用于可拆卸地连接与所述待测试NAND闪存芯片对应的主控板；

所述通讯接口用于连接测试用终端，以使所述测试用终端通过各所述主控板测试各自对应的待测试NAND闪存芯片。

在上述的NAND闪存测试治具中，进一步地，每一所述TSOP48端子板的结构相同，所述TSOP48端子板中的所述读/写功能扩展定义引脚和所述至少一片选功能扩展定义引脚均连接到所述M Key连接器相应的键位引脚。

在上述的NAND闪存测试治具中，进一步地，所述读/写功能扩展定义引脚为每一所述TSOP48端子板的第3引脚。

在上述的NAND闪存测试治具中，进一步地，所述片选功能扩展定义引脚的个数为四个，所述四个片选功能扩展定义引脚分别为每一所述TSOP48端子板的第21引脚、第22引脚、第26引脚和第27引脚。

在上述的NAND闪存测试治具中，进一步地，所述第21引脚对应于叠层数为5的NAND闪存芯片的片选功能引脚；

所述第22引脚对应于叠层数为6的NAND闪存芯片的片选功能引脚；

所述第26引脚对应于叠层数为7的NAND闪存芯片的片选功能引脚；

所述第27引脚对应于叠层数为8的NAND闪存芯片的片选功能引脚。