[实用新型]影像综合测试模体

权利要求书

1.影像综合测试模体，其特征在于，包括模体基板、设于所述模体基板的光射野一致性检测组件、设于所述模体基板的影像均匀性检测组件、设于所述模体基板的灰阶检测组件、设于所述模体基板的低对比度检测组件、以及设于所述模体基板的高对比度检测组件；所述影像均匀性检测组件包括位于所述模体基板的中心的第一均匀性检测块、以及环绕所述第一均匀性检测块分布的多个第二均匀性检测块。

2.根据权利要求1所述的影像综合测试模体，其特征在于，多个所述第二均匀性检测块位于以所述模体基板的中心为圆心的至少一个圆周上。

3.根据权利要求1或2所述的影像综合测试模体，其特征在于，所述第一均匀性检测块与所述第二均匀性检测块的厚度范围均为1.4毫米-1.6毫米；

和/或，所述第一均匀性检测块与所述第二均匀性检测块均为铜块。

4.根据权利要求1所述的影像综合测试模体，其特征在于，所述光射野一致性检测组件包括开设于所述模体基板且相互垂直的两根第一刻度线、以及开设于所述模体基板且相互垂直的两根第二刻度线；两根所述第一刻度线于端点处相连，两根所述第二刻度线于端点处相连，所述第一刻度线的长度范围为250毫米-270毫米，所述第二刻度线的长度范围为230毫米-250毫米。

5.根据权利要求4所述的影像综合测试模体，其特征在于，所述第一刻度线及所述第二刻度线的深度范围均为0.4毫米-0.6毫米；

和/或，两根所述第一刻度线组成的夹角的角平分线与两根所述第二刻度线组成的夹角的角平分线共线；

和/或，所述第一刻度线及所述第二刻度线上的刻度步进均为5毫米。

6.根据权利要求1所述的影像综合测试模体，其特征在于，所述灰阶检测组件包括分布于以所述模体基板的中心为圆心的同一圆周上且相互连接的多个检测阶梯，所述检测阶梯的厚度沿顺时针方向依次递增。

7.根据权利要求1所述的影像综合测试模体，其特征在于，所述高对比度检测组件包括设于所述模体基板的高对比度检测基板、以及设于所述高对比度检测基板且分辨率互不相同的多组检测线对；所述高对比度检测基板的厚度为0.1毫米，所述高对比度检测基板为铅箔板，所述检测线对的分辨率范围为0.6lp/mm-5lp/mm。

8.根据权利要求1所述的影像综合测试模体，其特征在于，所述低对比度检测组件包括设于所述模体基板的低对比度检测基板、以及开设于所述低对比度检测基板且沿以所述模体基板的中心为圆心的同一圆周上的多个深度互不相同的对比度检测孔，所述低对比度检测基板的厚度范围为15毫米-20毫米，所述低对比度检测基板为铝板，所述对比度检测孔的深度占所述低对比度检测基板的厚度的比例范围为0.5％-7.6％。

9.根据权利要求1所述的影像综合测试模体，其特征在于，所述影像综合测试模体还包括分别位于所述模体基板的相对的两侧的第一面板和第二面板，所述第一面板开设有用于容置所述模体基板的第一容置槽，所述第二面板开设有用于容置所述模体基板的第二容置槽，所述第一面板与所述第二面板相互卡接；

和/或，所述模体基板为铜板。

10.根据权利要求1所述的影像综合测试模体，其特征在于，所述影像综合测试模体还包括与所述模体基板相连的衰减铝块、以及与所述衰减铝块相连的两个支架；所述衰减铝块的厚度为25毫米，两个所述支架相对且间隔设置，两个所述支架均设有卡接件，所述衰减铝块开设有螺纹孔，每个所述支架均开设有连接长孔，所述支架与所述衰减铝块之间设有连接螺钉，所述连接螺钉贯穿所述连接长孔并与所述螺纹孔螺纹连接。