[实用新型]一种集成电路测试设备

说明书

本实用新型公开了一种集成电路测试设备，包括集成电路器件本体以及其上表面边缘处设置的若干引脚，所述集成电路器件本体的上表面设置有测试基座，且测试基座下表面的开孔分别与所述集成电路器件本体上表面一侧边缘处的引脚套接匹配，所述测试基座正面靠近顶端处沿水平方向开设有槽口，且槽口的下表面位于所述引脚的正上方处开设有向下延伸的凹槽，所述测试基座槽口内设置凹槽的底面低于所述引脚的上表面；使用时，将探针放入凹槽内，即可以实现探针与引脚的定位接触，避免了因手部抖动而发生探针与引脚接触不良或探针误碰其它引脚的现象。

技术领域

本实用新型涉及集成电路测试设备技术领域，具体为一种集成电路测试设备。

背景技术

集成电路是一种微型电子器件或部件。采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构；其中所有元件在结构上已组成一个整体，使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步。它在电路中用字母“IC”表示。集成电路在出厂前和使用前往往要求进行测试，集成电路测试是对集成电路或模块进行检测，通过测量对于集成电路的输出回应和预期输出比较，以确定或评估集成电路元器件功能和性能的过程，是验证设计、监控生产、保证质量、分析失效以及指导应用的重要手段。

然而现有技术中的集成电路测试设备在实际使用过程中存在一定的弊端，例如：

目前，对集成电路器件的测试往往采用测试仪表的探针对集成电路器件的引脚进行逐个测试，在测试的过程中需要手持探针进行测试，易出现由于手发抖的原因，造成探针与引脚的接触不良，或探针触碰待测引脚旁边的其它引脚，影响测试的效率。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种集成电路测试设备，通过在集成电路器件本体上表面一侧边缘处的引脚上套接有测试基座，使得使用探针对引脚进行接触测试时能够得到限位，解决了测试过程中因手部抖动等原因造成探针与引脚接触不良或探针误碰其它引脚的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种集成电路测试设备，包括集成电路器件本体以及其上表面边缘处设置的若干引脚，所述集成电路器件本体的上表面设置有测试基座，且测试基座下表面的开孔分别与所述集成电路器件本体上表面一侧边缘处的引脚套接匹配，所述测试基座正面靠近顶端处沿水平方向开设有槽口，且槽口的下表面位于所述引脚的正上方处开设有向下延伸的凹槽，所述测试基座槽口内设置凹槽的底面低于所述引脚的上表面。

优选的，所述测试基座正面开设的槽口内滑动卡接有橡胶套，所述橡胶套的长度小于所述测试基座正面与所述引脚正面之间的距离，且橡胶套的轴心处开设有用于套接探针的通孔；便于对探针进行固定和限位，使得对引脚测试的过程中不需要一直用手夹持探针。

优选的，所述测试基座的上表面开设有槽体结构，且槽体结构靠近正面的壁体两侧分别设置有限位套壳，所述限位套壳分别套接在所述橡胶套两端的外围，所述限位套壳的外径大于所述测试基座正面开设槽口的宽度；使得插入橡胶套内的探针能够在槽口内顺畅滑动，以对各个引脚进行便捷地测试。

优选的，所述橡胶套的外径等于所述测试基座正面槽口底部开设凹槽的宽度；使得橡胶套能够夹持固定在凹槽内，使得测试过程中，橡胶套夹持探针紧密接触在引脚的上表面上。

优选的，所述测试基座正面槽口底部的凹槽的两内侧面粘贴有橡胶凸起；凸起能够增加对橡胶套的夹持力。

优选的，所述橡胶凸起之间的最小距离大于探针外径与两倍橡胶套厚度之和；满足持探针夹持在橡胶套内后能够通过橡胶凸起之间接触至引脚。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：