[实用新型]一种线束测试装置

说明书

本实用新型提出了一种线束测试装置，包括：两端分别设置有多路连接口的连接接口，两端多路连接口之间通过级联电阻实现连接；所述连接接口用于通过两端的连接口连接待测线束，以通过各所述级联电阻将所述待测线束中的所有连接线首尾串联在一起；还包括多路开关，所述多路开关用于连接所述连接接口，可以通过控制，选择任意连接口开关闭合以使所连接的连接口接入后续电路；还包括：串联状态下的所述待测线束的通路中设置有AD采样点。本方案提升了测试的效率，操作方便简单，成本低，利于各种不同线束的测试需要。通过多路开关控制，可以方便选择当前的测试线束路数，以及出现异常时通过依次导通多路开关，方便自动检测异常的线束通道。

技术领域

本实用新型涉及线束测试领域，特别涉及一种线束测试装置。

背景技术

目前，随着技术的不断发展，线束的应用越来越多，而线束也越来越复杂，一般针对线束需要进行测试，具体的用以测试线束两端对应的引脚是否匹配，引脚之间的线路是否连接正常等，目前大部分的线束测试是采用万用表来进行的，但这种方式效率低下，需要一个一个的针对引脚的来进行测量，但目前线束需要测量的数量多，而且可能一个线束的引脚触点本来也很多，例如有10对，20对等，这种方式效率过于低下；

另一种方式则是采用专门的仪器来进行检测，但这种方式需要的仪器很昂贵，过高的成本也限制了其使用的范围。

由此，目前需要一种可以提升效率，且成本不高的测试方案。

实用新型内容

针对现有技术中的缺陷，本实用新型提出了一种线束测试装置，通过将待测线束中的各连接线首尾串联为一条线进行检测的方式，提升了测试的效率，且操作方便简单，成本很低，利于各种不同线束的测试需要。

具体的，本实用新型提出了以下具体的实施例：

本实用新型实施例提出了一种线束测试装置，包括：两端分别设置有多路连接口的连接接口，两端多路所述连接口之间通过级联电阻实现连接；所述连接接口用于通过两端的连接口连接待测线束，以通过各所述级联电阻将所述待测线束中的所有连接线首尾串联在一起；还包括多路开关，所述多路开关用于连接所述连接接口，可以通过控制，选择任意连接口开关闭合以使所连接的连接口接入后续电路；还包括：串联状态下的所述待测线束的通路中设置有AD采样点。

在一个具体的实施例中，所述多路开关包括一个多路模拟开关或包括多个多路模拟开关。

在一个具体的实施例中，所述多路开关为电控开关。

在一个具体的实施例中，还包括：MCU；其中，所述MCU连接所述AD 采样点，以获取所述AD采样点的数值，所述MCU还连接所述多路开关，以对所述多路开关连接的连接口进行控制。

在一个具体的实施例中，AD采样点通过采样电阻串联在测试通路中。

在一个具体的实施例中，还包括：接地电阻；所述多路开关的一端连接所述连接接口的连接口，另一端通过所述接地电阻实现接地。

在一个具体的实施例中，还包括：连接所述AD采样点的电压计。

在一个具体的实施例中，各所述级联电阻的电阻值一致。

在一个具体的实施例中，所述采样电阻与各所述级联电阻的电阻值一致。

在一个具体的实施例中，所述AD采样点设置在串联状态下的所述待测线束的通路中的首端或尾端。

以此，本实用新型实施例提出了一种线束测试装置，包括：