[实用新型]时间域航空电磁法探测系统发射线圈框架的中心定位装置有效

专利信息
申请号: 201920196795.6 申请日: 2019-02-14
公开(公告)号: CN209433026U 公开(公告)日: 2019-09-24
发明(设计)人: 张瑞文;彼得·瓦伦多诺维奇·库兹明;朱国臣 申请(专利权)人: 南风(上海)精密物理仪器有限公司;黄色地球物理有限公司
主分类号: G01V3/10 分类号: G01V3/10;G01V3/11
代理公司: 上海精晟知识产权代理有限公司 31253 代理人: 冯子玲
地址: 200120 上海市浦*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 圆盘部 插槽 中心定位装置 本实用新型 多边形中心 发射线圈 航空电磁 探测系统 整体切割 时间域 圆孔形 纤维板 玻璃纤维材料 玻璃纤维管 维持系统 中心通孔 厚玻璃 机加工 夹角为 外边缘 中心轴 侧壁 通孔 保证
【说明书】:

实用新型公开了一种时间域航空电磁法探测系统发射线圈框架的中心定位装置,设有一个圆盘部,圆盘部的中心设有一个圆形的通孔,圆盘部外边缘的侧壁上围绕圆周均匀设有若干个圆孔形的插槽。圆盘部通过对厚玻璃纤维板机加工整体切割而成。圆盘部的直径为520mm,厚度为70mm。中心通孔的直径为100mm。圆孔形的插槽的直径为55mm,深度为200mm。插槽设有6个,相邻的两个插槽的中心轴之间的夹角为60°。本实用新型采用玻璃纤维材料,通过整体切割的方式,设计成一个圆盘,位于多边形中心,连接玻璃纤维管,使其在通过多边形中心的时候保证在同一平面,并且利于安装,维持系统的稳定性。

技术领域

本实用新型涉及一种发射线圈框架的中心定位装置,具体地,涉及一种时间域航空电磁法探测系统发射线圈框架的中心定位装置。

背景技术

时间域航空电磁法(ATEM)探测系统是航空物探的一种。航空物探作为快速、经济的高技术勘查方法在西方发达国家使用较为广泛,主要用于金属矿产资源调查,区域资源勘查及地质填图等。飞行作业可以使探测的速度和应用范围大大扩展,极大的提高资源勘察的效率。

时间域航空电磁探测系统由机载数据采集和记录计算机等机上设备和机舱外挂发射线圈和接收线圈组成。发射装置通过控制发射线圈中的电流,向地下发射随时间变化的电磁场(一次场),一次场使地下有导电性的物体产生感应电流,感应电流产生感应电磁场(二次场)。二次感应电磁场随时间衰减,通过接收线圈可以接收二次场的各方向的感应电压分量。二次场和地下物质的电磁性质相关,对接收到的二次场的感应电压分析后可以推断地下介质的介电常数、电导率和磁导率等参数。通过对目标区域的探测可以得到一个区域的电性参数,从而可以推断地下物质的空间分布和形状等信息。

当前时间域航空电磁法测量系统发射线圈多采用多边形的框架结构,支撑杆的连接多为螺栓连接,一方面增加了结构的复杂程度,安装起来比较繁琐,结构稳定性难于控制,另一方面如果连接件中有金属成分,可能感应出电磁噪声,影响设备性能。一方面由于在多边形中心玻璃纤维管会相互交叉,使得骨架不在同一平面,稳定定性难于控制,另一方面如果连接件中有金属成分,有可能产生电磁干扰。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种发射线圈框架的中心定位装置,使其在通过多边形中心的时候保证在同一平面,能够解决现有问题,并且利于安装,可以维持系统的稳定性。

为了达到上述目的,本实用新型提供了一种时间域航空电磁法探测系统发射线圈框架的中心定位装置,其中,所述的中心定位装置设有一个圆盘部,圆盘部的中心设有一个圆形的通孔,圆盘部外边缘的侧壁上围绕圆周均匀设有若干个圆孔形的插槽。所述的中心定位装置为一体成型。

上述的时间域航空电磁法探测系统发射线圈框架的中心定位装置,其中,所述的圆盘部为底面直径大于厚度的圆柱体,圆柱体的顶面和底面与侧壁之间分别设有用于过渡的斜角,上下两个斜角之间的圆柱体侧壁的顶边和底边分别与圆孔形的插槽的顶端和底端相切;圆盘中心设有从圆柱体的顶面贯通至底面的一个圆柱形通孔,通孔的孔壁与圆盘的圆柱体顶面和底面之间也分别设有用于过渡的斜角。

上述的时间域航空电磁法探测系统发射线圈框架的中心定位装置,其中,所述的圆盘部通过对厚玻璃纤维板机加工整体切割而成。

上述的时间域航空电磁法探测系统发射线圈框架的中心定位装置,其中,所述的圆盘部,其圆柱体的直径为520mm,厚度为70mm。

上述的时间域航空电磁法探测系统发射线圈框架的中心定位装置,其中,所述的圆盘部,其中心通孔的直径为100mm,通过对圆盘部机加工切割方式而完成。

上述的时间域航空电磁法探测系统发射线圈框架的中心定位装置,其中,所述的圆孔形的插槽,其直径为55mm,从圆盘部的侧壁表面插入圆盘部内的深度为200mm,插槽的开口设置在圆盘部的侧壁表面,圆孔形插槽的中心轴垂直于圆盘部的侧壁表面以及中心通孔的孔壁表面,并位于圆盘部的圆柱体高的中点处。

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