[发明专利]一种光源控制设备及方法

说明书

本发明公开了一种光源控制设备及方法，包括光源组件、遮光筒、第三透镜、第四透镜、分光组件、图像采集组件和处理器；所述光源组件设置在所述遮光筒内；所述第三透镜，用于将点光源发出的光转换为平行光；所述第四透镜，用于将平行光透射至分光组件；所述分光组件，用于将平行光分成第一路光束和第二路光束，将第一路光束透射至目标物体上，将第二路光束反射至图像采集组件上；所述图像采集组件，用于对第二路光束进行采集，得到图像；所述处理器，用于确定发射光源的光参数；基于发射光源的光参数，调整透射至目标物体上的第一路光束的光参数。本发明可以调整透射至目标物体上的光强和/或光斑大小，使光源更加适应不同的测量环境。

技术领域

本发明涉及光谱分析技术，特别涉及一种光源控制设备及方法。

背景技术

采用光谱法对待测物质进行光谱分析时，如果使用光强固定的光源照射所述待测物质时，往往容易使得透过所述待测物质的出射光要么很弱，要么很强。若出射光很弱，则会造成光谱仪无法采集到该出射光；若出射光很强，则会导致采集该出射光的光谱仪达到饱和。另外，如果使用光斑固定的光源照射所述待测物质时，若所述待测物质中存在吸收不均匀的物质，则会导致出射光的均匀性较差，进而降低光谱分析的精度。

因此，亟需找到一种能够调整照射到待测物质上的光源的光参数的技术方案。

发明内容

本发明的目的是克服现有技术中的不足，提供一种光源控制设备及方法，实现自动调整透射至所述目标物体上的光强和/或光斑大小。

本发明所采用的技术方案是：一种光源控制设备，包括光源组件、遮光筒、第三透镜、第四透镜、分光组件、图像采集组件和处理器；其中，

所述光源组件，用于将发射光源转换为点光源；所述光源组件设置在所述遮光筒内；

所述第三透镜，用于将所述点光源发出的光转换为平行光；

所述第四透镜，用于将经过所述第三透镜得到的所述平行光透射至所述分光组件；

所述分光组件，用于将经过所述第四透镜的所述平行光分成第一路光束和第二路光束，并将所述第一路光束透射至目标物体上，将所述第二路光束反射至所述图像采集组件上；

所述图像采集组件，用于对所述第二路光束进行采集，得到图像；

所述处理器，用于提取所述图像中的特征数据；基于提取的特征数据，确定所述第二路光束的光参数；基于所述第二路光束的光参数，调整透射至所述目标物体上的所述第一路光束的光参数。

进一步地，所述光源组件包括：

第一透镜，用于将发射光源发出的光转换为平行光；

第二透镜，用于对经过所述第一透镜得到的所述平行光进行汇聚，得到汇聚后的光；以及，

光阑，用于将汇聚后的光通过光阑孔径形成点光源；其中，

所述第一透镜、所述第二透镜和所述光阑设置在所述遮光筒内。

进一步地，所述光阑接收孔径调整指令，响应所述孔径调整指令，将所述光阑孔径由第一孔径调整为第二孔径，并通过所述第二孔径将汇聚后的光形成点光源。

进一步地，所述光参数包括：光强和/或光斑。

进一步地，所述处理器将所述第二路光束的光参数值与预设阈值进行比较，得到比较结果；基于所述比较结果，调整透射至所述目标物体上的所述第一路光束的光参数。