[发明专利]一种仪控卡件的可靠性检测方法在审
申请号: | 201911422401.5 | 申请日: | 2019-12-31 |
公开(公告)号: | CN111090037A | 公开(公告)日: | 2020-05-01 |
发明(设计)人: | 康澄杰;秦凤;钱玉刚;朱桂霞;周田蜜;李艳良 | 申请(专利权)人: | 中核武汉核电运行技术股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 核工业专利中心 11007 | 代理人: | 李东斌 |
地址: | 430223 湖北省武汉*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 仪控卡件 可靠性 检测 方法 | ||
1.一种仪控卡件的可靠性检测方法,其特征在于:该方法具体包括如下步骤:
步骤1、根据待检测卡件的功能,搭建仿真模型;
步骤2、对待检测卡件进行拷机测试;
步骤3、输入与拷机测试相同的工况,并对待检测卡件进行仿真分析;
步骤4、根据仿真结果构建案例库,并通过拷机波形与特征案例波形进行对比进行故障诊断,确定待检测卡件拷机状态和故障位置,完成卡件可靠性检测。
2.根据权利要求1所述的一种仪控卡件的可靠性检测方法,其特征在于:所述的步骤1中搭建仿真模型的具体步骤为:
步骤1.1、确定待检测卡件对象,阅读卡件相关资料,分析获得待检测卡件的功能、作用及输入输出;
步骤1.2、获取待检测卡件的原理图,并分解卡件的功能模块;
步骤1.3、利用仿真软件绘制待检测卡件原理图,并依此搭接仿真模型。
3.根据权利要求1所述的一种仪控卡件的可靠性检测方法,其特征在于:所述的步骤2中对检测卡件进行拷机测试的具体步骤为:
步骤2.1、对待检测卡件进行测例空载测试;
步骤2.2、利用小电压小电流对卡件进行带载测试;
步骤2.3、对待测卡件输入不同工况条件下的输入激励,调节录波频率,并获得各个测点的输出波形。
4.根据权利要求1或3所述的一种仪控卡件的可靠性检测方法,其特征在于:对待测卡件进行拷机测试时,对待测卡件进行7*24小时不间断拷机能力测试,通过不断调节机箱温度、湿度,模拟卡件的真实工作环境;通过随机改变卡件的相关输入激励,模拟卡件的异常工作环境和正常工作环境;在2kHz~100kHz范围内选定录波频率,采集测试卡件各个测点的输出波形。
5.根据权利要求1所述的一种仪控卡件的可靠性检测方法,其特征在于:所述的步骤3中对待测试卡件进行仿真的具体步骤为:
步骤3.1、获取待测卡件在不同工况下的输入激励;
步骤3.2、利用仿真模型模拟正常卡件电路,获得正常卡件在异常工作环境和/或正常工作环境下的标准波形;
步骤3.2、利用仿真模型模拟部分电路故障情况,获得故障卡件在异常工作环境和/或正常工作环境下的标准波形;
步骤3.3、利用仿真结果完善案例库。
6.根据权利要求5所述的一种仪控卡件的可靠性检测方法,其特征在于:所述的正常卡件标准波形包括正常卡件在输入异常工况下的相关输入激励所获得的标准波形,以及正常卡件在输入正常工况下的相关输入激励所获得的标准波形;所述的异常卡件标准波形包括异常卡件在输入异常工况下的相关输入激励所获得的标准波形,以及异常卡件在输入正常工况下的相关输入激励所获得的标准波形。
7.根据权利要求1所述的一种仪控卡件的可靠性检测方法,其特征在于:所述的步骤4中进行故障诊断的具体步骤为:
步骤4.1、利用现有波形对比算法,对待测卡件拷机波形与相应特征案例库波形进行对比;
步骤4.2、获得Manhattan距离M值的最小波形;
步骤4.3、判断卡件是否存在故障,若存在故障,则极易故障树,获得故障的可能位置。
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