[发明专利]多路高速信号采集老化筛选试验台

说明书

本发明属于老化筛选试验设备技术领域，具体涉及一种多路高速信号采集老化筛选试验台，包括控制板，控制板包括FPGA模块、漏电流取样模块、DIO、继电器阵列切换电路和保险丝检测电路模块，漏电流取样模块包括高速ADC、模拟信号调理电路、IV转换电路和校准电路，老化板分别与IV转换电路、继电器阵列切换电路和保险丝检测电路模块信号连接，继电器阵列切换电路和保险丝检测电路模块信号均与DIO信号连接，DIO与FPGA模块信号连接，IV转换电路依次与模拟信号调理电路、高速ADC和FPGA模块信号连接，高速ADC与校准电路信号连接，校准电路与FPGA模块信号连接。

技术领域

本发明属于老化筛选试验设备技术领域，具体涉及多路高速信号采集老化筛选试验台。

背景技术

可靠性分析是对一种电子元件在投入使用时无故障工作能力的度量。电子元件的寿命期分为老化期、使用寿命期、损耗期。其中在老化期中存在早期失效，失效率较高；在使用寿命期失效率较稳定；而在损耗期失效率也较高。可靠性筛选试验是在一批产品中剔除由潜在不良因素造成的有缺陷产品。经剔除早期失效筛选后，产品的失效率可降低一至两个数量级。目前电容器高温直流老炼试验主要有两种测试模式，第一种是人工在高温下安装好样品，然后将每一只样品两端的电极引线至箱体外部进行测量，最后通过人工进行每一只样品进行手工测量测试。第二种方法是通过巡检的办法进行每个工位的数据测量，这种办法比第一种办法先进了很多，但是因为巡检测量的过程中，数据测量积分需要时间，同时工位切换也需要时间，所有工位巡检测量一遍时间基本都需要5分钟。由于军工及宇航级的电容要求非常严格，并且对产品筛选数量非常多，为了提高采集的效率，填补国内该测试工装的空白，特此设计了一种高速采集的测试系统。

发明内容

本发明的目的是：旨在提供一种多路高速信号采集老化筛选试验台，由FPGA芯片构成的512路高速信号处理装置，实时采集所有工位的漏电流，并且传输至上位机进行信号处理，由于每块老化板配备一套专用漏电流高速采集数据系统，实现快速的漏电流采集，能实现每个工位10ms间歇的时间的数据监控，快速筛选出不合格的产品，实现批量筛选元件，缩短试验人员的工作时间，提高企业的工作效率。

为实现上述技术目的，本发明采用的技术方案如下：

一种多路高速信号采集老化筛选试验台，包括机箱、高温试验温箱、上位机系统、RS232串口服务器、电源分配板、控制板、控制板电源和老化板，所述上位机系统与RS232串口服务器信号连接，所述RS232串口服务器分别与电源分配板、控制板和高温试验温箱信号连接，所述控制板与老化板信号连接，RS232串口服务器采用RS232全双工通讯模式通讯，所述上位机系统采用并行通讯网络构架，所述控制板包括FPGA模块、漏电流取样模块、DIO、继电器阵列切换电路和保险丝检测电路模块，所述漏电流取样模块包括高速ADC、模拟信号调理电路、IV转换电路和校准电路，所述老化板分别与IV转换电路、继电器阵列切换电路和保险丝检测电路模块信号连接，所述继电器阵列切换电路和保险丝检测电路模块信号均与DIO信号连接，所述DIO与FPGA模块信号连接，所述IV转换电路依次与模拟信号调理电路、高速ADC和FPGA模块信号连接，所述高速ADC与校准电路信号连接，所述校准电路与FPGA模块信号连接，所述FPGA模块与RS232串口服务器信号连接。