[发明专利]一种用于复合材料超声检测的曲率系数的确定方法在审
申请号: | 201911406064.0 | 申请日: | 2019-12-31 |
公开(公告)号: | CN111272868A | 公开(公告)日: | 2020-06-12 |
发明(设计)人: | 刘松平;刘菲菲;李乐刚;李治应;傅天航;史俊伟 | 申请(专利权)人: | 中国航空制造技术研究院 |
主分类号: | G01N29/04 | 分类号: | G01N29/04 |
代理公司: | 中国航空专利中心 11008 | 代理人: | 陈宏林 |
地址: | 100024 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 复合材料 超声 检测 曲率 系数 确定 方法 | ||
1.一种用于复合材料超声检测的曲率系数的确定方法,其特征在于:该曲率系数的确定方法的步骤如下:
步骤一、制备不同厚度的平面试块(1),其厚度为Hi,i=1,2,...,m;试块(1)的最小厚度Hmin、中间厚度Hmid、最大厚度Hmax分别与待检测零件的最小、中间及最大厚度相同,按照相同的测量轨迹和测量参数对每一个平面试块(1)进行超声信号测量,超声测量信号用uij表示,j为超声测量信号的数量,j=1,2,...,n;然后计算对每一个平面试块(1)的超声测量信号uij的算术平均值,用表示,并绘制Hi与的曲线;
步骤二、制备厚度为Hi的不同曲率半径rl的曲面试块(2),这里l表示不同曲率半径的数量,且l≥3,曲面试块(2)的曲面中,最小曲面半径rmin、中间曲率半径rmid、最大曲率半径rmax分别与待检测零件的最小、中间及最大曲率半径相同,按照与步骤一相同的测量轨迹和测量参数对每一个曲面试块(2)进行超声信号测量,然后计算对每一个曲面试块(2)的超声测量信号vij的算术平均值,用表示;
步骤三、按照取相同曲率半径和相同厚度的原则,根据步骤一中绘制的Hi与曲线,计算与的差值,得到不同曲率半径所对应的超声曲率系数ψc,并绘制曲率半径与超声曲率系数ψc的关系曲线。
2.根据权利要求1所述的用于复合材料超声检测的曲率系数的确定方法,其特征在于:平面试块(1)的材料与待检测零件的复合材料相同。
3.根据权利要求1所述的用于复合材料超声检测的曲率系数的确定方法,其特征在于:平面试块(1)的数量不少于5个。
4.根据权利要求1所述的用于复合材料超声检测的曲率系数的确定方法,其特征在于:所述超声测量轨迹和测量参数与待检测零件的检测要求相同。
5.根据权利要求1或4所述的用于复合材料超声检测的曲率系数的确定方法,其特征在于:所述超声测量轨迹和测量参数包括测量轨迹路径和测量点标定。
6.根据权利要求1所述的用于复合材料超声检测的曲率系数的确定方法,其特征在于:曲面试块(2)的材料与待检测零件的复合材料相同。
7.根据权利要求1所述的用于复合材料超声检测的曲率系数的确定方法,其特征在于:不同厚度的试块(1)之间的厚度梯度为2mm。
8.根据权利要求1或4所述的用于复合材料超声检测的曲率系数的确定方法,其特征在于:所述超声测量轨迹和测量参数中,测量轨迹为扫描方式,扫描速度为100mm/s,测量参数为相邻测量点的间距为2mm。
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