[发明专利]一种固态硬盘异常掉电的测试方法、装置和系统

说明书

本发明实施例公开了一种固态硬盘异常掉电的测试方法、装置和系统，通过在待测SSD执行IO命令过程中对待测SSD进行下电和上电操作，从而实现了对SSD进行异常掉电的测试。

技术领域

本发明实施例涉及但不限于测试技术，尤指一种固态硬盘(SSD，Solid StateDrives)异常掉电的测试方法、装置和系统。

背景技术

SSD掉电分为两种，一种是正常掉电，另一种是异常掉电。

正常掉电是指在掉电前，主机会通过命令通知SSD，比如串行高级技术附件(SATA，Serial Advanced Technology Attachment)中的Idle Immediately，SSD收到该命令后，会将SSD的动态随机存取存储器(DRAM，Dynamic Random Access Memory)中的数据写入SSD的闪存；其中，DRAM中的数据例如可以是DRAM中的buffer中缓存的数据、映射表、闪存的块信息、其他信息等。主机等SSD将DRAM中的数据写入SSD的闪存后，才会真正停止对SSD的供电。正常掉电不会导致数据的丢失，重新上电后，SSD只需把掉电前写入闪存的数据重新加载到DRAM中，又能接着掉电前的状态继续工作。

异常掉电是指SSD在没有收到主机的掉电通知时就被断电；或者收到主机的掉电通知后还没来得及将DRAM中的数据写入SSD的闪存就被断电了。异常掉电可能会导致数据的丢失，比如DRAM中的数据来不及写入闪存，掉电导致这部分数据丢失，还有根据闪存特性，如果掉电发生在写多层单元 (MLC，Multi-Level Cell)的上页(Upper Page)，会导致其对应的下页(Lower Page)数据遭到破坏，也就意味着之前写入闪存的数据也可能由于异常掉电导致丢失。

SSD掉电是SSD测试工作中的一个重要环节，根据SSD掉电的测试结果可以判断SSD是否正常，因此对SSD掉电的测试至关重要，然而目前没有有效方式能够对SSD进行异常掉电的测试。

发明内容

本发明实施例提供了一种SSD异常掉电的测试方法、装置和系统，能够对SSD进行异常掉电的测试。

本发明一个实施例提出了一种固态硬盘异常掉电的测试方法，包括：

接收到测试指令；其中，所述测试指令包括：掉电类型、待测固态硬盘 SSD的数量、每一个待测SSD的模型Model号、为待测SSD供电的电源的插槽号；

当没有任何一个用于向SSD下发输入输出IO命令的进程启用时，将当前循环次数加1后进行预定处理；分别获取每一个待测SSD的Model号、容量信息和Smart信息并进行预定处理；其中，预定处理包括以下一个或多个的组合：打印；写入第一日志文件；

根据待测SSD的数量启用对应数量的用于向待测SSD下发IO命令的进程，通过启用的进程分别向每一个待测SSD下发IO命令；

分别在每一个待测SSD执行IO命令过程中向为每一个待测SSD供电的电源下发掉电命令，在下发掉电命令后的第一预设时间后向所述电源下发上电命令；分别对每一个待测SSD的上电次数进行预定处理，结束所有启用的用于向待测SSD下发IO命令的进程；继续执行所述将当前循环次数加1后进行预定处理的步骤，直到当前循环次数加1后大于最大循环次数。

在本发明实施例中，所述通过启用的进程分别向每一个待测SSD下发IO 命令包括：

分别生成每一个待测SSD的配置文件，分别根据每一个待测SSD的配置文件通过启用的进程向每一个待测SSD下发IO命令。

在本发明实施例中，所述配置文件包括所述待测SSD的容量信息对应的范围内的逻辑区块地址LBA中用于执行IO命令的LBA、读写比例、IO块大小。

在本发明实施例中，该方法还包括：