[发明专利]基于MIC和MP的数据集异常数据处理方法在审
申请号: | 201911372438.1 | 申请日: | 2019-12-27 |
公开(公告)号: | CN111125197A | 公开(公告)日: | 2020-05-08 |
发明(设计)人: | 唐雪飞;张青龙;周益;甘洪;胡茂秋 | 申请(专利权)人: | 成都康赛信息技术有限公司 |
主分类号: | G06F16/2458 | 分类号: | G06F16/2458;G06F16/28;G06K9/62 |
代理公司: | 成都虹盛汇泉专利代理有限公司 51268 | 代理人: | 刘冬静 |
地址: | 610054 四川省成都市成华区*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 mic mp 数据 异常 数据处理 方法 | ||
1.基于MIC和MP的数据集异常数据处理方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1、定义n个归属于不同类别C的始化样本数据集X{x1,x2,x3...,xn};
S2、根据样本数据计算降维后特征空间中的类间散度和类内散度
S3、建立MIC优化目标函数Wopt,利用类间散度和类内散度得到变化后的计算表达式;
S4、最佳鉴别向量约束为单位向量,进行MIC优化目标函数的转化;
S5、对高维数据集X进行降维,通过变换获得低维特征的数据集Y;
S6、计算出低维数据集Y的均值和方差∑Y,然后建立和α∈(0,1)的单类MP优化目标函数;
S7、利用获取的优化值创建判断新检测数据dnew是否为异常数据的函数,并将异常数据和正常数据进行分类存储。
2.根据权利要求1所述的基于MIC和MP的数据集异常数据处理方法,其特征在于,所述步骤S2具体实现方法为:定义一个线性映射:WD×d=[w1,w2,w3,...wd],根据映射将高维数据X{x1,x2,x3...,xn}投影到低维特征空间Y={y1,y2,y3,...,yn}中:
Y=WTX (1)
其中D和d分别代表降维前和降维后的维数,D>>d,MIC的目标函数为:
tr()代表矩阵的迹,表示降维后特征空间中的类间散度,表示降维后特征空间中的类内散度,Zb、Zw分别表示原始样本中的类间散度和类内散度,其计算表达式如下:
3.根据权利要求1所述的基于MIC和MP的数据集异常数据处理方法,其特征在于所述步骤S3具体实现方法,通过计算出的类间散度和类内散度创建MIC的优化目标函数,将表达式(3)和(4)引入(2)中得到变化的优化目标函数,具体计算公式如下:
4.根据权利要求1所述的基于MIC和MP的数据集异常数据处理方法,其特征在于,所述步骤S4具体实现方法为:为了规避小样本问题并且保持原始数据形状不发生大的变化,最佳鉴别向量W约束为单位向量:其优化目标函数泛化方程式为:
约束条件有:
其中W=[w1,w2,w3,...,wd]表示MIC的最优鉴别向量值。
5.根据权利要求1所述的基于MIC和MP的数据集异常数据处理方法,其特征在于,所述步骤S5具体实现方法为:针对高维数据集X{x1,x2,x3...,xn}进行变换处理获得低维特征的数据集Y={y1,y2,y3...yn},计算公式为:
yi=WTxy (7)
其中如下公式表示MIC最优鉴别向量:
W=[w1,w2,w3...wd] (8)。
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