[发明专利]基于MIC和MP的数据集异常数据处理方法在审

专利信息
申请号: 201911372438.1 申请日: 2019-12-27
公开(公告)号: CN111125197A 公开(公告)日: 2020-05-08
发明(设计)人: 唐雪飞;张青龙;周益;甘洪;胡茂秋 申请(专利权)人: 成都康赛信息技术有限公司
主分类号: G06F16/2458 分类号: G06F16/2458;G06F16/28;G06K9/62
代理公司: 成都虹盛汇泉专利代理有限公司 51268 代理人: 刘冬静
地址: 610054 四川省成都市成华区*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 基于 mic mp 数据 异常 数据处理 方法
【权利要求书】:

1.基于MIC和MP的数据集异常数据处理方法,其特征在于,包括以下步骤:

S1、定义n个归属于不同类别C的始化样本数据集X{x1,x2,x3...,xn};

S2、根据样本数据计算降维后特征空间中的类间散度和类内散度

S3、建立MIC优化目标函数Wopt,利用类间散度和类内散度得到变化后的计算表达式;

S4、最佳鉴别向量约束为单位向量,进行MIC优化目标函数的转化;

S5、对高维数据集X进行降维,通过变换获得低维特征的数据集Y;

S6、计算出低维数据集Y的均值和方差∑Y,然后建立和α∈(0,1)的单类MP优化目标函数;

S7、利用获取的优化值创建判断新检测数据dnew是否为异常数据的函数,并将异常数据和正常数据进行分类存储。

2.根据权利要求1所述的基于MIC和MP的数据集异常数据处理方法,其特征在于,所述步骤S2具体实现方法为:定义一个线性映射:WD×d=[w1,w2,w3,...wd],根据映射将高维数据X{x1,x2,x3...,xn}投影到低维特征空间Y={y1,y2,y3,...,yn}中:

Y=WTX (1)

其中D和d分别代表降维前和降维后的维数,D>>d,MIC的目标函数为:

tr()代表矩阵的迹,表示降维后特征空间中的类间散度,表示降维后特征空间中的类内散度,Zb、Zw分别表示原始样本中的类间散度和类内散度,其计算表达式如下:

3.根据权利要求1所述的基于MIC和MP的数据集异常数据处理方法,其特征在于所述步骤S3具体实现方法,通过计算出的类间散度和类内散度创建MIC的优化目标函数,将表达式(3)和(4)引入(2)中得到变化的优化目标函数,具体计算公式如下:

4.根据权利要求1所述的基于MIC和MP的数据集异常数据处理方法,其特征在于,所述步骤S4具体实现方法为:为了规避小样本问题并且保持原始数据形状不发生大的变化,最佳鉴别向量W约束为单位向量:其优化目标函数泛化方程式为:

约束条件有:

其中W=[w1,w2,w3,...,wd]表示MIC的最优鉴别向量值。

5.根据权利要求1所述的基于MIC和MP的数据集异常数据处理方法,其特征在于,所述步骤S5具体实现方法为:针对高维数据集X{x1,x2,x3...,xn}进行变换处理获得低维特征的数据集Y={y1,y2,y3...yn},计算公式为:

yi=WTxy (7)

其中如下公式表示MIC最优鉴别向量:

W=[w1,w2,w3...wd] (8)。

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