[发明专利]一种轴间距测量方法、装置、系统、存储介质和处理器

权利要求书

1.一种轴间距测量方法，其特征在于，包括：

将千分表固定于测量球的球体表面进行测量得到测量读数；

根据所述测量读数的变化来调节所述俯仰轴的轴线与所述测量球的球心直至重合，其中，所述俯仰轴是平行于水平面并正交于方位轴的轴线，所述方位轴是垂直于水平面的轴线；

将所述俯仰轴绕所述方位轴旋转180度；

将所述千分表固定于所述俯仰轴的另一端来测量所述测量球球体表面的任意两点得到两点的千分表读数；

计算所述两点千分表读数的差值得到测量结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，将所述俯仰轴绕所述方位轴旋转180度包括：

通过调节光管去测量六面体相对的两个面来将所述俯仰轴绕所述方位轴旋转180度，其中，所述六面体的对称中心线位于所述方位轴轴线上。

3.一种轴间距测量装置，其特征在于，包括：千分表和测量球，所述千分表随着测量的进行在所述测量球的球体表面与俯仰轴之间移动，所述测量球是高精度球体，所述千分表测量所述测量球的球体表面和所述测量球的球体任意两点。

4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述测量球的球体任意两点是所述测量球的球体表面上的任意以所述测量球中心线对称的两点。

5.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，包括：光管与六面体，所述光管设置于所述六面体的一侧，所述千分表设置于所述六面体的另一侧，所述光管测量六面体相对的两个面，所述六面体的对称中心线位于方位轴轴线上，所述方位轴垂直于所述测量台的水平台面。

6.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，包括：测量台、第一二维位移台和第二二维位移台，所述第一二维位移台固定于所述测量台上，所述测量球设置于所述第一二维位移台上；所述六面体置于所述第二二维位移台上，所述第二二维位移台设置在所述测量台上。

7.一种轴间距测量系统，其特征在于，包括：

第一测量单元，用于将千分表固定于测量球的球体表面进行测量得到测量读数；

第一调节单元，用于根据所述测量读数的变化来调节所述俯仰轴的轴线与所述测量球的球心直至重合，其中，所述俯仰轴是；

第二调节单元，用于将所述俯仰轴绕所述方位轴旋转180度；

第二测量单元，用于将所述千分表固定于所述俯仰轴的另一端来测量所述测量球球体表面的任意两点得到两点的千分表读数；

计算单元，用于计算所述两点千分表读数的差值得到测量结果。

8.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，所述第二调节单元包括：调节模块，所述调节模块用于通过调节光管去测量六面体相对的两个面来将所述俯仰轴绕所述方位轴旋转180度，其中，所述六面体的对称中心线位于所述方位轴轴线上。

9.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质上保存有程序，所述程序被运行时执行权利要求1或2所述的方法。

10.一种处理器，其特征在于，所述程序被运行时执行权利要求1或2所述的方法。