[发明专利]用于光轴校准的光学系统和光轴校准方法在审

专利信息
申请号: 201911369500.1 申请日: 2019-12-26
公开(公告)号: CN113050292A 公开(公告)日: 2021-06-29
发明(设计)人: 胡伟鹏 申请(专利权)人: 江西晶润光学有限公司
主分类号: G02B27/62 分类号: G02B27/62
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司 44202 代理人: 熊永强
地址: 330096 江西省南昌市南*** 国省代码: 江西;36
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摘要:
搜索关键词: 用于 光轴 校准 光学系统 方法
【说明书】:

发明的用于光轴校准的光学系统和光轴校准方法,该光学系统包括光源、分光镜、第一反射镜、第二反射镜和检测组件,光源、分光镜和第一反射镜在第一直线上依次排布,光源朝向分光镜发射光束,第二反射镜与第一反射镜相对,检测组件与分光镜在第二直线上排布,第一直线与第二直线相交;光源发出光束,光束透过分光镜形成第一光束,光束被分光镜反射形成第二光束;第一光束依次经第一反射镜和第二反射镜反射而进入摄像模组;第二光束进入检测组件,第一光束和第二光束具有唯一确定的对应关系;调节光学系统使得第一光束的角度满足校准要求,设置摄像模组的光轴与第一光束重合以实现摄像模组的光轴校准。

技术领域

本发明属于摄像模组的结构矫正技术领域,尤其涉及一种用于光轴校准的光学系统和光轴校准方法。

背景技术

摄像模组安装到支架上时,需要调整好摄像模组与支架的相对位置关系,主要是摄像模组的光轴的校准(active alignment,AA),以使支架安装到移动终端上时,摄像模组能与移动终端的结构匹配,并使得移动终端具有较好的成像质量。

现有的摄像模组的光轴校准主要通过摄像模组的分辨率测试卡进行校准,而通过分辨率测试卡校准往往存在难以确定规格的问题。当规格过于严格则增加了校准的难度;当给定的规格太宽松,容易造成摄像模组位置偏差,导致成像不良。并且,摄像模组往往与支架具有一定的相对角度,现有技术无法对具有相对角度的摄像模组进行校准。

发明内容

本发明的目的是提供一种用于光轴校准的光学系统和光轴校准方法,解决现有技术存在的上述问题。

为实现本发明的目的,本发明提供了如下的技术方案:

第一方面,本发明实施例提供一种用于光轴校准的光学系统,用于校准摄像模组的光轴,包括光源、分光镜、第一反射镜、第二反射镜和检测组件,所述光源、所述分光镜和所述第一反射镜在第一直线上依次排布,所述光源朝向所述分光镜发射光束,所述第二反射镜与所述第一反射镜相对,所述检测组件与所述分光镜在第二直线上排布,所述第一直线与所述第二直线相交;所述光源发出光束,所述光束透过所述分光镜形成第一光束,所述光束被所述分光镜反射形成第二光束;所述第一光束依次经所述第一反射镜和所述第二反射镜反射而进入所述摄像模组;所述第二光束进入所述检测组件,所述第一光束和所述第二光束具有唯一确定的对应关系;所述检测组件检测所述第二光束相对所述检测组件的光轴的角度,并根据所述第二光束与所述第一光束的对应关系,得到所述第一光束相对所述摄像模组的光轴的角度,调节所述光学系统使得所述第一光束的角度满足校准要求,设置所述摄像模组的光轴与所述第一光束重合以实现所述摄像模组的光轴校准。

通过设置光源、分光镜、第一反射镜、第二反射镜和检测组件的结构,检测组件检测第二光束的角度,根据第二光束与第一光束的对应关系,便得到第一光束的角度,再通过调整摄像模组的光轴与第一光束重合,即可实现摄像模组的光轴校准。无给定规格难以确定的问题,且能够根据摄像模组的相对角度选择合适的第一光束的角度,能对具有相对角度的摄像模组进行校准。

一种实施例中,所述光源发射的所述光束的数量为多条,以使形成的所述第一光束和所述第二光束的数量为多条,多条所述第一光束在所述第一反射镜和所述第二反射镜处反射而形成预设角度向多个所述摄像模组发射,多条所述第一光束和多条所述第二光束具有一一对应关系,所述检测组件检测多条所述第二光束相对所述检测组件的光轴的角度,并根据多条所述第二光束与多条所述第一光束的一一对应关系,得到多条所述第一光束相对多个所述摄像模组的光轴的角度,调节所述光学系统使得多条所述第一光束满足校准要求,设置多个所述摄像模组的光轴与多条所述第一光束重合以实现多个所述摄像模组的光轴校准。

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