[发明专利]能够自动换样的智能型低本底αβ测量仪

说明书

本发明提供一种能够自动换样的智能型低本底αβ测量仪，包括铅室、基座及直线移动机械臂；基座内部设置有电源、控制卡及电机驱动器；所述直线移动机械臂上设有机械抓手；基座的上方设有测量通道；直线移动机械臂包括X轴电机、X轴导轨，Y轴电机、Y轴导轨。该能够自动换样的智能型低本底αβ测量仪可以实现自动换样的操作，可以实现样品从样品待测区抓取样品、放置于测量通道和样品收集区，并完成自动换样的功能。

技术领域

本发明具体涉及一种能够自动换样的智能型低本底αβ测量仪。

背景技术

低本底αβ测量仪的通常技术路线如下，通过探测器采集到样品中的α和β射线后转化为电信号，输出到电子学系统进行放大甄别，然后转化为数字量传送到上位机系统进行计数分析。主要包括数据采集探测技术、电子学甄别技术和计算方法等。

数据采集探测技术，采用闪烁探测器采集粒子，粒子进入闪烁体后会发出光子，光子被采集到光电倍增管的光阴极后转化为光电子，经过打拿极的各级放大转化为较大的电流信号，进入前置放大器。

电子学甄别技术，经过前置放大器处理后的信号直接输入到电子学处理系统，对其进行幅度甄别，实现α粒子和β粒子的区分。

计算方法，记录到α粒子和β粒子的数据后，通过计算方法计算其效率、本底等指标。

现有低本底αβ测量仪一般采用手动换样的情况，因此急需一种能够自动换样的智能型低本底αβ测量仪。

发明内容

本发明的目的在于针对现有技术的不足，提供一种能够自动换样的智能型低本底αβ测量仪，该能够自动换样的智能型低本底αβ测量仪可以很好地解决上述问题。

为达到上述要求，本发明采取的技术方案是：提供一种能够自动换样的智能型低本底αβ测量仪，该能够自动换样的智能型低本底αβ测量仪包括铅室、基座及直线移动机械臂；基座内部设置有电源、控制卡及电机驱动器；所述直线移动机械臂上设有机械抓手；基座的上方设有测量通道；直线移动机械臂包括X轴电机、X轴导轨，Y轴电机、Y轴导轨。

该能够自动换样的智能型低本底αβ测量仪具有的优点如下：

该能够自动换样的智能型低本底αβ测量仪可以实现自动换样的操作，可以实现样品从样品待测区抓取样品、放置于测量通道和样品收集区，并完成自动换样的功能。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部分，在这些附图中使用相同的参考标号来表示相同或相似的部分，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：

图1示意性地示出了根据本申请一个实施例的能够自动换样的智能型低本底αβ测量仪的结构示意图。

其中：1、铅室；2、直线移动机械臂；3、机械抓手；4、样品盘；5、基座；6、测量通道；7、检测状态灯；8、电机驱动器；9、控制卡；10、电源。

具体实施方式

为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚，以下结合附图及具体实施例，对本申请作进一步地详细说明。

在以下描述中，对“一个实施例”、“实施例”、“一个示例”、“示例”等等的引用表明如此描述的实施例或示例可以包括特定特征、结构、特性、性质、元素或限度，但并非每个实施例或示例都必然包括特定特征、结构、特性、性质、元素或限度。另外，重复使用短语“根据本申请的一个实施例”虽然有可能是指代相同实施例，但并非必然指代相同的实施例。

为简单起见，以下描述中省略了本领域技术人员公知的某些技术特征。