[发明专利]基于光载微波干涉的光纤时延测量方法及装置

权利要求书

1.一种基于光载微波干涉的光纤时延测量方法，其特征在于，将两路波长不同的光载波耦合为一路后，用微波信号对其进行强度调制；将所得调制光信号中的两路不同波长的光载微波信号分离出来，令其中一路通过待测光纤后与另一路光载微波信号耦合为一路，对耦合后的光载微波信号进行光电探测并测量出所得光电流的幅度；令所述微波信号从零开始扫频，并在每个频点重复以上过程，从而得到随所述微波信号频率变化而呈周期性变化的光电流幅度信息，最后根据所述光电流幅度信息解算出待测光纤的时延。

2.如权利要求1所述基于光载微波干涉的光纤时延测量方法，其特征在于，具体根据下式解算出待测光纤的时延τ_D：

其中，τ₀为所述另一路光载微波信号的时延；按照所述微波信号从小到大的顺序，f_k表示光电流幅度的第k个波谷所对应的微波信号频率，k为正整数。

3.如权利要求1所述基于光载微波干涉的光纤时延测量方法，其特征在于，用波分复用器将所得调制光信号中的两路不同波长的光载微波信号分离出来。

4.如权利要求1所述基于光载微波干涉的光纤时延测量方法，其特征在于，用微波功率计测量出所得光电流的幅度。

5.一种基于光载微波干涉的光纤时延测量装置，其特征在于，包括：

光源模块，用于生成两路波长不同的光载波并将其耦合为一路；

微波源，用于输出从零开始扫频的微波信号；

强度调制器，用于用微波扫频源输出的微波信号对光源模块输出光信号进行强度调制；

光载微波干涉模块，用于将强度调制器所输出调制光信号中的两路不同波长的光载微波信号分离出来，并令其中一路通过待测光纤后与另一路光载微波信号耦合为一路；

光电探测器，用于对光载微波干涉模块输出的耦合后的光载微波信号进行光电探测；

幅度提取模块，用于从光电探测器的输出信号中提取出随所述微波信号频率变化而呈周期性变化的光电流幅度信息；

解算模块，用于根据所述光电流幅度信息解算出待测光纤的时延。

6.如权利要求5所述基于光载微波干涉的光纤时延测量装置，其特征在于，解算模块具体根据下式解算出待测光纤的时延τ_D：

其中，τ₀为所述另一路光载微波信号的时延；按照所述微波信号从小到大的顺序，f_k表示光电流幅度的第k个波谷所对应的微波信号频率，k为正整数。

7.如权利要求5所述基于光载微波干涉的光纤时延测量装置，其特征在于，所述光载微波干涉模块使用波分复用器将强度调制器所输出调制光信号中的两路不同波长的光载微波信号分离出来。

8.如权利要求5所述基于光载微波干涉的光纤时延测量装置，其特征在于，所述幅度提取模块为微波功率计。