[发明专利]一种多核素污染土壤核素残留水平优化分析方法有效

专利信息
申请号: 201911348225.5 申请日: 2019-12-24
公开(公告)号: CN113032725B 公开(公告)日: 2023-04-07
发明(设计)人: 张宁洲;童仲坤;赵东海;谢长东;陈海龙;廉冰;王彦 申请(专利权)人: 中核建中核燃料元件有限公司
主分类号: G06F17/18 分类号: G06F17/18
代理公司: 核工业专利中心 11007 代理人: 孙成林
地址: 644000 四川省*** 国省代码: 四川;51
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 多核 污染 土壤 核素 残留 水平 优化 分析 方法
【说明书】:

本发明公开了一种多核素污染土壤核素残留水平优化分析方法,步骤一:需考虑因素的确定;步骤二:各因素的权重因子的计算;步骤三:利用多属性效应函数分析方法进行优化;步骤四:采用牛顿—最速下降法寻找最优点;步骤五:核素i的残留水平。本发明的有益效果在于:从辐射防护最优化的角度,考虑不同核素的治理难度,治理代价及其它因素,实现单一核素残留水平的最优化分配结果,为制定更好的治理方案提供真实可信的数据支撑。

技术领域

本发明属于辐射防护最优化技术领域,具体涉及一种多核素污染土壤中核素最大可允许残留活度的优化分析方法,它主要针对多核素污染土壤的修复需要。

背景技术

核能的发展对我国和平利用核能与核技术利用作出了巨大贡献,但同时在一定程度上对周围环境产生了污染,对厂区内外环境构成较严重的威胁,需要对该部分污染区域进行治理。而污染区域土壤中核素可最大允许的残留水平,是制定污染区域治理目标的主要问题之一。现今美国阿贡实验室开发的RESRAD程序对退役终态场址土壤残留放射性水平控制值的进行了推导计算,该软件广泛应用于美国能源部(DOE)管理核设施场址,并在亚洲、欧洲等地区的研究院所、大学及管理部门应用,我国参照该程序制定了《推导退役后场址土壤中放射性残存物可接受浓度的照射情景、计算模式和参数》(EJ/T1191-2005),其有效的解决了我国大部分放射性污染土壤治理过程中最大可允许残留水平的确定问题。

但是该方法主要是推导单一核素的最大可允许残留水平,对于部分污染场地,其存在多种核素并存状态,则需经审管部门验证,确认已满足与场址的应满足相应的剂量准则,按照剂量准则来对土壤中放射性残存物的活度浓度加以控制。多核素污染土壤中单一核素的残留水平的确定就靠人为来进行分配,不同的分配方式,导致后期的治理工作的难度及经费有较大差异,无法体现辐射防护最优化原则。

专利即是基于以上考虑,从辐射防护最优化的角度,考虑不同核素的治理难度,治理代价及其它因素,实现单一核素残留水平的最优化分配结果,为制定更好的治理方案提供真实可信的数据支撑。

发明内容

本发明的目的在于提供一种多核素污染土壤核素残留水平优化分析方法,它能够科学准确地对多核素污染土壤单一核素残留水平的最优化分配,为多核素污染场地的修复治理提供数据支撑。

本发明的技术方案如下:一种多核素污染土壤核素残留水平优化分析方法,包括如下步骤,

步骤一:需考虑因素的确定;

步骤二:各因素的权重因子的计算;

步骤三:利用多属性效应函数分析方法进行优化;

步骤四:采用牛顿—最速下降法寻找最优点

步骤五:核素i的残留水平。

所述的步骤一包括如下步骤,

(1)所致敏感目标剂量占比;

(2)治理费用;

根据核素i污染土壤治理费用的Fi,计算核素i污染土壤治理费用的占比bi

(3)治理技术难度系数

假定核素i污染土壤的治理难度系数为Ni,参照步骤(2)中治理费用核素i占比的计算方法,计算核素i污染土壤治理难度系数占比ci

(4)二次污染物

假定核素i污染土壤治理过程中产生的二次污染物量为Ci。计算核素i污染土壤二次污染物产生量的占比di

所述的步骤一中的步骤(1)包括如下步骤,

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中核建中核燃料元件有限公司,未经中核建中核燃料元件有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201911348225.5/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top