[发明专利]水平极化全向天线及天线测试系统

权利要求书

1.一种水平极化全向天线，其特征在于，包括：

电流巴伦结构和多个折叠偶极子，所述多个折叠偶极子构成电压巴伦结构，其中，馈电层与同轴线的天线本体的内芯线相连，接地层与同轴线的天线本体的屏蔽层相连，以通过所述电流巴伦结构和所述电压巴伦结构共同扼制折叠偶极子上的电流流到同轴线外皮上，以对多种探头天线进行校准。

2.根据权利要求1所述的天线，其特征在于，在所述天线的周向方向上，所述每个折叠偶极子包括沿周向延伸的两个端部，至少一个端部上设有朝向另一端部弯折延伸的弯折部。

3.根据权利要求2所述的天线，其特征在于，还包括：

多个耦合片，所述多个耦合片的每个耦合片设置于相邻折叠偶极子的端部的对应位置处。

4.根据权利要求3所述的天线，其特征在于，所述对应位置为所述相邻折叠偶极子的弯折位置。

5.根据权利要求1所述的天线，其特征在于，其中，所述多个折叠偶极子的每个折叠偶极子的上层微带与下层微带均设有电镀过孔。

6.根据权利要求1所述的天线，其特征在于，所述电流巴伦结构包括：

扼流结构，所述扼流结构为预设的盘状结构；

微带结构，所述微带结构为预设的宽度渐变结构。

7.根据权利要求1所述的天线，其特征在于，所述天线的阻抗特性由所述多个折叠偶极子的线宽多阶变换得到。

8.根据权利要求1所述的天线，其特征在于，还包括：

多层PCB板，其中，所述多层PCB板的每层PCB板通过金属过孔相连。

9.根据权利要求1所述的天线，其特征在于，所述多个折叠偶极子为四个折叠偶极子。

10.一种天线测试系统，其特征在于，包括：

微波暗室及仪表；

如权利要求1-9任一项所述的天线。