[发明专利]一种基于数据流量的TDD-LTE基站辐射预测方法

说明书

本发明公开了一种基于数据流量的TDD‑LTE基站辐射预测方法，其步骤如下：该方法首先提出基站数据流量分布模型，得到基站数据流量分布模型m(t)，由参数计算基站的发射功率表达式P(t)，并结合TDD‑LTE基站电磁辐射强度S的计算公式，最终预测得到距离基站为r的待测点的基站电磁辐射值。本发明根据TDD基站的数据流量使用情况，计算得到TDD基站的发射功率，并准确预测TDD‑LTE基站电磁辐射强度。

技术领域

本发明涉及一种基于数据流量的TDD-LTE基站辐射预测方法。

背景技术

随着第4代移动通信系统覆盖率越来越高，通信需求延伸到人们生活的各个角落，其中人们使用手机数据流量的比重越来越高，其中TDD-LTE(时分双工长期演进技术)基站的发射功率与基站发送的数据流量有密不可分的关系，但目前已公开的文献和专利中，很少考虑将此类基站发送数据流量与人们身体暴露电磁辐射值联系起来，并对基站电磁辐射暴露水平进行有效预估。

针对现有技术中存在的不足，本专利提出一种基于数据流量的TDD-LTE基站辐射预测方法，该方法首先提出基站数据流量分布模型，得到基站数据流量分布模型m(t)，由参数计算基站的发射功率表达式P(t)，然后结合基站电磁辐射强度S，最终预测得到距离基站为r的待测点的基站电磁辐射值。

发明内容

为了解决上述技术问题，本发明提供一种基于数据流量的TDD-LTE基站辐射预测方法。

本发明解决上述技术问题的技术方案包括以下步骤：

(1)建立基站数据流量分布模型，

其中m(t)为基站数据流量使用量，单位为mbit，t为数据流量使用时间，单位为小时，a、b、为参数，a取值为13.3，b取值为4825.7，取值为0.785；

(2)根据(1)得到的基站的数据流量使用量，计算基站的发射功率表达式P(t)；

(3)根据(2)得到的基站发射功率P(t)，结合功率密度表达式，得到预测基站电磁辐射强度S。

上述的一种基于数据流量的TDD-LTE基站辐射预测方法，所述步骤(1)和步骤(2)中，结合根据步骤(1)得到的基站的数据流量使用量，计算基站的发射功率表达式如下：

P(t)＝lg[m(t)]+1/2σ²

其中P(t)为基站发射功率，单位为W，lg为底数为10的对数函数，σ取值为0.18。

上述的一种基于数据流量的TDD-LTE基站辐射预测方法，所述步骤(3)中，结合步骤(2)得到的基站的发射功率表达式P(t)，则待测点与基站距离为r的功率密度表达式为：

S＝P(t)·G/4πr²

其中S为基站对该点的辐射强度总值，单位为W/m²，r为待测点与基站的距离，单位为m，G为基站的天线增益，单位为dB。

本发明的有益效果在于：本方法首先提出一种基于数据流量的TDD-LTE基站辐射预测方法，该方法首先提出基站数据流量分布模型，得到基站数据流量分布模型m(t)，由参数计算基站的发射功率表达式P(t)，然后结合基站电磁辐射强度S，最终预测得到距离基站为r的待测点的基站电磁辐射值，在目前对基站发送数据流量与人们身体暴露电磁辐射值联系较少的环境下，本方法对指导基站环境影响和环境保护有一定的作用，具有一定的社会价值。

具体实施方式