[发明专利]一种连接头测试方法和装置

说明书

本发明公开了一种连接头测试方法和连接头测试装置，用于实现对连接头的内部电路进行测试。本发明实施例的连接头测试方法应用于连接头测试装置，在本发明实施例的连接头测试方法中，将连接头连接转换器的接口端，以使得连接头的接口的不同线路连接转换器的不同线路，连接头内设有目标电路。配置继电器，以使万用表通过连接头的接口的线路电连接目标电路。通过万用表测试目标电路，得到测试数据，以及，通过处理设备，根据测试数据，判断目标电路是否符合预设合格要求。通过转换器可以延伸连接头的接口端，万用表测试出目标电路的测试数据，以供处理设备判断目标电路是否符合预设合格要求，这样，实现了对连接头的内部电路进行测试。

技术领域

本发明涉及检测设备技术领域，尤其涉及一种连接头测试方法和连接头测试装置。

背景技术

连接头用于连接不同类型的线缆，连接头例如为有源光缆连接头。

为了保证连接头的质量，需要在生产过程中，对连接头进行测试。现有的连接头测试方案，往往是在连接头未封装且内部电路裸露时，通过测试设备电连接连接头的内部电路，以测试出连接头的内部电路是否合格。

但是，这样的测试方式，在连接头封装后，因连接头的接口造型较小等原因，导致不能对连接头的内部电路进行测试。而因搬运碰撞等原因，此时，连接头仍有损坏的可能，为了避免给用户不良品，需要对连接头进行测试。

发明内容

本发明的目的在于提供一种连接头测试方法和连接头测试装置，用于实现对连接头的内部电路进行测试。

为达此目的，本发明实施例采用以下技术方案：

一种连接头测试方法，所述连接头测试方法应用于连接头测试装置，所述连接头测试装置包括转换器、继电器、万用表、和处理设备，所述转换器和所述继电器电连接，所述万用表和所述继电器电连接，所述万用表和所述处理设备电连接；

所述连接头测试方法，包括：

将连接头连接所述转换器的接口端，以使得所述连接头的接口的不同线路连接所述转换器的不同线路，其中，所述连接头内设有目标电路；

配置所述继电器，以使所述万用表通过所述连接头的接口的线路电连接所述目标电路；

通过所述万用表测试所述目标电路，得到测试数据；

通过所述处理设备，根据所述测试数据，判断所述目标电路是否符合预设合格要求。

可选地，所述目标电路包括IC和电容，所述IC和所述电容电连接；

所述通过所述万用表测试所述目标电路，得到测试数据，包括：

通过所述万用表的电容档测试所述目标电路，得到电容数据。

可选地，所述通过所述处理设备，根据所述测试数据，判断所述目标电路是否符合预设合格要求，包括：

通过所述处理设备，判断所述电容数据是否在预设电容范围内；

若所述电容数据在所述预设电容范围内，则通过所述处理设备确定所述目标电路符合所述预设合格要求；

若所述电容数据不在所述预设电容范围内，则通过所述处理设备确定所述目标电路不符合所述预设合格要求。

可选地，所述目标电路包括电阻；

所述通过所述万用表测试所述目标电路，得到测试数据，包括：

通过所述万用表的电阻档测试所述目标电路，得到电阻数据。

可选地，所述通过所述处理设备，根据所述测试数据，判断所述目标电路是否符合预设合格要求，包括：

通过所述处理设备，判断所述电阻数据是否在预设电阻范围内；