[发明专利]一种集成电路测试分选机的分粒机构

说明书

本发明涉及集成电路测试技术领域，且公开了一种集成电路测试分选机的分粒机构，包括电路流道，电路流道的上端固定连接有固定框，固定框呈倒“U”型设置，固定框的下端中心处固定连接有固定块，固定块的下端铰接有伸缩装置，伸缩装置的两端对称铰接有分选装置，固定框的下端安装有动力装置；分选装置包括滑筒、滑杆和分选块，两个滑筒对称铰接在伸缩装置的两端，滑筒的开口向上设置，滑杆滑动连接在滑筒内，滑杆远离滑筒内筒底的一端穿过滑筒的筒口并向上延伸，且固定连接在固定框内的对应位置上。该集成电路测试分选机的分粒机构，使得分选块和电路流道之间是直上直下，分选块不会卡电路流道中。

技术领域

本发明涉及集成电路测试技术领域，具体为一种集成电路测试分选机的分粒机构。

背景技术

目前集成电路测试封装使用的分选机多种多样，其中的分粒机构大多采用气爪气缸直接与档杆连接的方式，而这种气爪气缸做成的结构具有成本高，使用寿命短的缺点。

在专利号为CN102259099A的专利中，提供了一种集成电路测试分选机的分粒机构，它至少包括有一个电路流道、一个气缸，作用于所述电路流道和气缸的前挡杆和后挡杆，所述的前挡杆连接L型连接件，所述L型连接件通过螺丝固定在气缸轴上，所述的气缸轴设置于气缸缸体内部；所述的前挡杆和后挡杆上设置有前支座和后支座，所述的前挡杆和后挡杆之间设置有光轴和光轴槽；所述前挡杆上设置有螺纹孔，通过该螺纹孔用螺丝将分粒压块固定在前挡杆上；该方案采用有效地解决了上述问题，但是仍然存在以下问题：在分选的过程中，分选块和电路流道之间并不是直上直下，分选块带有一定的弧度进入到电路流道中，长久使用后，分选块容易卡在电路流道中，影响装置的耐久性。

发明内容

(一)解决的技术问题

针对现有技术的不足，本发明提供了一种集成电路测试分选机的分粒机构，具备分选块和电路流道之间是直上直下，分选块不会卡电路流道中等优点，解决了在分选的过程中，分选块和电路流道之间并不是直上直下，分选块带有一定的弧度进入到电路流道中，长久使用后，分选块容易卡在电路流道中，影响装置耐久性的问题。

(二)技术方案

为实现上述分选块和电路流道之间是直上直下，分选块不会卡电路流道中的目的，本发明提供如下技术方案：一种集成电路测试分选机的分粒机构，包括电路流道，电路流道的上端固定连接有固定框，所述固定框呈倒“U”型设置，所述固定框的下端中心处固定连接有固定块，所述固定块的下端铰接有伸缩装置，所述伸缩装置的两端对称铰接有分选装置，所述固定框的下端安装有动力装置；

所述分选装置包括滑筒、滑杆和分选块，两个所述滑筒对称铰接在伸缩装置的两端，所述滑筒的开口向上设置，所述滑杆滑动连接在滑筒内，所述滑杆远离滑筒内筒底的一端穿过滑筒的筒口并向上延伸，且固定连接在固定框内的对应位置上，两个所述分选块分别固定连接在滑筒外的下端，所述分选块位于电路流道的正上方。

优选的，所述伸缩装置包括挡板、移动槽和移动杆，所述挡板的上端中心处铰接在固定块的下端上，两个所述移动槽对称开设在挡板的两端，两个所述移动杆分别滑动连接在两个移动槽内，所述移动杆远离移动槽槽底的一端穿过移动槽的槽口并向外延伸，且铰接在对应滑筒的外侧壁上。

优选的，所述滑筒内对称开设有限位槽，所述限位槽内滑动连接有限位块，所述限位块远离限位槽槽底的一端穿过限位槽的槽口并向外延伸，且固定连接在滑杆的对应杆壁上。

优选的，所述限位块靠近限位槽槽底的一端开设有滚珠槽，所述滚珠槽内滚动连接有滚珠，所述滚珠远离滚珠槽槽底的一端穿过滚珠槽的槽口向外延伸，且与限位槽的槽底滚动连接。

优选的，所述滚珠的直径大于滚珠槽槽口的口径。

优选的，所述动力装置包括气缸和导轨，所述气缸安装在固定框内的底部，所述导轨固定连接在挡板上端的一侧，所述气缸的输出端铰接在导轨的输出端上。