[发明专利]电路的优化方法、电子设备和存储介质

说明书

本发明提供一种电路的优化方法、电子设备和存储介质，电路的优化方法，包括：获取电路中各个元件的理论参数值、标称参数值和实际参数值；获取各个元件选用理论参数值时电路对应的理论时域响应，获取各个元件中的至少部分选用标称参数值，且其他元件选用理论参数值时电路对应的标称时域响应，获取各个元件中的至少部分选用实际参数值，且其他元件选用理论参数值时电路对应的实际时域响应；基于理论时域响应、标称时域响应和实际时域响应，确定标称误差和实际误差；基于标称误差和实际误差，确定电路中的元件的调整方式。本发明实施例的电路的优化方法，可以精确找到对电路误差影响较大的元件，保证电路效果与理论设计一致，减少元件成本。

技术领域

本发明涉及电路生产领域，更具体地，涉及一种电路的优化方法、电子设备和存储介质。

背景技术

在搭建实际电路时，现有技术均是先设计出电路拓扑结构，再根据使用需求，设计电路中各个元件(电路元件)的理论参数值。但是，在搭建实际的电路时并不能直接做到和理论计算的电路完全相同，其中存在两点误差：(1)标称误差，该标称误差是指理论参数值与标称参数值的误差，其中，理论参数值是指计算出的元件(电阻、电容和电感等)参数值，标称元件参数值是指按标准规格采用的最相近的元件参数值，如计算出理论电容值为8.9μf，而实际中按标准规格采用的最相近电容即标称参数值为10μf，则10μf和8.9μf之间的误差就是标称误差；(2)实际误差，该实际误差是指标称参数值与实际参数值之间的误差，其中，实际参数值是指减去元件在生产或其它过程中的误差后的参数值，如通常情况下，电容的误差可达±20％，此时，对于标称参数值为10μf的电容，其实际容量可能只有8μf，则10μf和8μf之间的误差就是实际误差。

由于电路设计过程中采用的理论参数值，但是在实际的电路搭建过程中使用的是标称参数值或实际参数值，误差的存在将直接导致实际电路与理论设计之间产生较大偏差。

现有技术，为了消除影响，通过在电路仿真软件中逐一排查不同元件及其误差大小在最终设计的电路的传递函数中发挥的作用，包括作用的频段范围、对增益和相位的影响。但是由于同一频段的误差通常是由多个元件误差共同导致的，因此仅通过排查单一元件误差很难确定是由哪些元件误差共同作用以及影响的程度。其次，针对实际误差所有元件均采用高精度的元件，这样可以大大减小实际误差带来的影响，但是会使得硬件成本增加，尤其是在电路批量生产时，会大大增加硬件成本。

发明内容

本发明实施例提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的电路的优化方法。

第一方面，本发明实施例提供一种电路的优化方法，包括：获取电路中各个元件的理论参数值、标称参数值和实际参数值；获取所述各个元件选用理论参数值时所述电路对应的理论时域响应，获取所述各个元件中的至少部分选用标称参数值，且其他元件选用理论参数值时所述电路对应的标称时域响应，获取所述各个元件中的至少部分选用实际参数值，且其他元件选用理论参数值时所述电路对应的实际时域响应；基于所述理论时域响应、所述标称时域响应和所述实际时域响应，确定标称误差和实际误差；基于所述标称误差和所述实际误差，确定所述电路中的元件的调整方式。

在一些实施例中，所述的电路的优化方法，包括：所述获取电路中各个元件的理论参数值、标称参数值和实际参数值，包括：获取所述电路中所述各个元件的理论参数值；基于所述理论参数值，确定所述标称参数值；基于所述标称参数值，确定所述实际参数值。

在一些实施例中，所述获取所述各个元件选用理论参数值时所述电路对应的理论时域响应，获取所述各个元件选用标称参数值时所述电路对应的标称时域响应，获取所述各个元件选用实际参数值时所述电路对应的实际时域响应，包括：基于所述电路的拓扑结构和各个元件对应的理论参数值或者标称参数值或者实际参数值，确定对应的传递函数；基于所述传递函数，确定对应的频域响应；基于所述频域响应，确定对应的时域响应。