[发明专利]一种集成电路测试方法

说明书

本发明涉及集成电路测试领域,公开了一种集成电路测试方法，在进行跳变测试时，先确定集成电路输出管脚出现状态跳变时信号源输出信号值的区间，即大步距调节信号源输入集成电路的信号值，直至集成电路的输出管脚出现状态跳变，然后将信号源的输出信号值后退两个大步距，接着小步距调节信号源的输出信号值，直至集成电路的输出管脚再次出现跳变，此时信号源的输出信号值便是测量结果。本发明通过先确定集成电路的输出管脚出现状态跳变时信号源输出信号值的区间，然后在区间内小步距调节信号源的输出信号，进而在保证测试精确度的同时减少测试时间，提高测试效率。

技术领域

本发明涉及集成电路测试领域，具体涉及一种集成电路测试方法。

背景技术

在对集成电路特别是模拟量芯片进行跳变测试时，会先给芯片一个连续变化的输入值，然后记录芯片输出管脚发生状态跳变时对应的输入值，其中输入值可以是电压和电流。

现有测试方法在测试时输入值在规格下限和规格上限之间是小步距调节，即输入值从规格下限值开始，每次微量变化，直至芯片输出管脚发生状态跳变或者到达规格上限。但此方法在实际测试时由于输入值每次变化量较小，测试效率较低，如果增加输入值的变化量，芯片输出管脚发生状态跳变时对应的输入值会不准确，影响测试精确度。

发明内容

鉴于背景技术的不足，本发明是提供了一种集成电路测试方法，所要解决的技术问题是在不影响测量精确度的情况下，提高集成电路跳变测试的测试效率。

为解决以上技术问题，本发明提供了如下技术方案：一种集成电路测试方法，包括以下步骤：

S1：集成电路的输入管脚接入信号源，信号源向集成电路输入的信号可调；

S2：测试开始，调节信号源的输出信号值至测量起始值，然后大步距调节信号源输出的信号值，并观察集成电路输出管脚是否发生状态跳变，如果发生状态跳变，记录当前信号源输出的信号值大小，记为第一跳变值，然后进入步骤S3；

S3：将信号源输出的信号值从第一跳变值后退两个大步距，记为第二测量起始值；

S4：再次测试，调节信号源的输出信号值至第二测量起始值，然后小步距调节信号源输出的信号值，并观察集成电路输出管脚是否发生状态跳变，如果发生状态跳变，记录当前信号源输出的信号值大小，停止测试。

跳变测试有测量起始值和测量终值，信号源输出的信号从测量起始值开始逐渐调节到测量终值，将测量终值减去测量起始值后再除以 15至20中任一整数得到大步距，小步距是大步距的十分之一。

进一步，信号源包括电压源或者电流源。

进一步，信号源输出信号的幅度、频率和占空比可调。

在测试时，先确定集成电路的输出管脚出现状态跳变时信号源输出信号值的区间，即信号源的输出信号从规格下限开始，然后每次增加一个大步距，如果发生状态跳变，记录当前信号源输出的信号值大小，记为第一跳变值。将第一跳变值后退两个大步距为信号源输出信号的第二测试起始值，然后每次增加一个小步距，再次出现状态跳变时信号源的输出信号值就是测量结果。

本发明与现有技术相比所具有的有益效果是：先确定集成电路的输出管脚出现状态跳变时信号源输出信号值的区间，然后在区间内小步距调节信号源的输出信号，直至集成电路的输出管脚再次出现状态跳变，进而在保证测试精确度的同时减少测试时间，提高测试效率。

附图说明

本发明有如下附图：

图1为本发明的信号源的大步距调节示意图；

图2为本发明的信号源的小步距调节示意图。

具体实施方式