[发明专利]模块开关机老化的测试方法及系统

说明书

本发明公开了一种模块开关机老化的测试方法及系统，所述测试系统包括上位机和测试装置；测试装置包括测试引脚供电模块；在测试引脚供电模块给对应的测试引脚供电时，上位机用于根据设定测试项对待测模块进行测试，并获取测试结果；上位机还用于判断测试结果是否满足设定条件，若是，则确定待测模块未发生开关机老化；若否，则确定待测模块发生开关机老化。本发明的测试系统具有结构简单、制作成本低、占用空间少等优点；能够实现一台上位机同时测试8个待测模块，从而提高了开关机老化的测试效率；另外，可以读取每个被测模块的工作电流和工作电压，便于后续问题的定位分析。

技术领域

本发明涉及模块测试技术领域，特别涉及一种模块开关机老化的测试方法及系统。

背景技术

目前，对模块开关机老化进行测试时，一般采用上位机通过GPIB(通用接口总线)卡控制程控电源的方式对模块进行上下掉电、拉低Powerkey(电源键)、拉低Reset(复位)等操作，上位机再通过设置相应的测试参数，即可实现对模块进行开关机老化的测试。

但是，由于程控电源的带载能力的限制，其每次最多只能测试5块待测模块，即现有的模块开关机老化的测试系统只能同时对少量的被测模块进行测试；而对于被测模块数量较多的情况，会存在较多数量的被测模块占用较多的程控电源、上位机以及测试空间，且必须同时具备上位机、GPIB卡和程控电源才能实现模块开关机老化的测试，缺少其中一个都无法进行测试，因此存在测试效率不高、成本较高的问题。

发明内容

本发明要解决的技术问题是为了克服现有技术中模块开关机老化的测试系统存在成本较高、占用空间较大、测试效率不高等缺陷，提供一种模块开关机老化的测试方法及系统。

本发明是通过下述技术方案来解决上述技术问题：

本发明提供一种模块开关机老化的测试系统，所述测试系统包括上位机和测试装置；

所述测试装置包括测试引脚供电模块；

所述测试引脚供电模块与所述待测模块中对应的测试引脚电连接；

所述上位机与所述待测模块通信连接；

在所述测试引脚供电模块给对应的所述测试引脚供电时，所述上位机用于根据设定测试项对所述待测模块进行测试，并获取测试结果；

其中，所述设定测试项与所述测试引脚相对应；

所述上位机还用于判断所述测试结果是否满足设定条件，若是，则确定所述待测模块未发生开关机老化；若否，则确定所述待测模块发生开关机老化。

较佳地，所述测试装置还包括电压引脚供电模块；

所述电压引脚供电模块与所述待测模块的电压端电连接；

所述电压引脚供电模块用于给所述待测模块的电压端供电；

所述测试引脚供电模块包括开关机供电模块和复位供电模块；

所述开关机供电模块与所述待测模块的开关机引脚电连接，所述开关机供电模块用于给所述开关机引脚供电；

所述复位供电模块与所述待测模块的复位引脚电连接，所述复位供电模块用于给所述复位引脚供电。

较佳地，所述测试装置还包括开关电源模块和电压转换模块；

所述电压转换模块分别与所述开关电源模块和所述测试引脚供电模块电连接；

所述开关电源模块用于提供初始电压；

所述电压转换模块用于将所述初始电压转换成第一电压，给所述测试引脚供电模块供电；

所述测试引脚供电模块用于将所述第一电压转换成第二电压，给所述测试引脚供电；