[发明专利]一种热辐射信息加载装置、方法及所加载信息的读取方法有效
申请号: | 201911259491.0 | 申请日: | 2019-12-10 |
公开(公告)号: | CN111027337B | 公开(公告)日: | 2021-07-27 |
发明(设计)人: | 易飞;李君宇;黎锦钊 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学 |
主分类号: | G06K7/10 | 分类号: | G06K7/10;G06F21/60 |
代理公司: | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人: | 李智 |
地址: | 430074 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 热辐射 信息 加载 装置 方法 读取 | ||
1.一种基于热辐射信息加载装置的热辐射信息加载方法,其特征在于,所述热辐射信息加载装置包括从上到下依次分布的光学涂层、光学天线阵列层、绝缘层、金属背板和衬底,其中,所述光学天线阵列层附着有若干呈阵列分布的天线簇;
所述光学天线阵列层、绝缘层和金属背板共同构成超表面吸收体,用于通过将图像信息加载到光学天线阵列层中天线簇的横向尺寸上,对其主动发射的红外热辐射进行调制,实现热辐射信息加载;
所述光学涂层用于保护光学天线阵列层,并将光学天线阵列层上所加载的信息在可见光下隐形;
所述衬底用于支撑上述超表面吸收体;
所述热辐射信息加载方法包括以下步骤:
S1、对待加载的图像信息的灰度值进行量化处理;
S2、测量不同横向尺寸天线簇所对应的超表面吸收体的光谱辐射出射度,并基于光谱辐射出射度和红外探测器的光谱响应,得出不同横向尺寸天线所对应的超表面吸收体发射的红外光辐射被红外探测器接收后所对应的相对灰度值,建立天线簇横向尺寸与图像灰度之间的映射关系;
S3、根据所得映射关系以及待加载图像信息的灰度值,将光学天线阵列层上相应位置处的天线簇横向尺寸设置为相应的大小;
S4、基于不同横向尺寸天线簇所对应的超表面吸收体所发射的红外波段光强信息各不相同的原理,将图像信息加载到红外波段上。
2.根据权利要求1所述的热辐射信息加载方法,其特征在于,所述超表面吸收体为MIM型超表面吸收体。
3.根据权利要求1所述的热辐射信息加载方法,其特征在于,所述天线簇呈圆盘形阵列分布或者呈正方形阵列分布或者呈多边形阵列分布。
4.根据权利要求3所述的热辐射信息加载方法,其特征在于,当天线簇呈圆盘形阵列分布时,其横向尺寸为圆盘形阵列的半径;
当天线簇呈正方形阵列分布时,其横向尺寸为正方形阵列的边长;
当天线簇呈多边形阵列分布时,其横向尺寸为多边形阵列的边长。
5.根据权利要求1所述的热辐射信息加载方法,其特征在于,所述待加载的图像信息为灰度图像信息。
6.根据权利要求1所述的热辐射信息加载方法,其特征在于,所述光学天线阵列层上各天线簇的横向尺寸大小与待加载图像中各像素点的灰度值一一对应。
7.根据权利要求1-6任意一项所述的热辐射信息加载方法,其特征在于,读取所述热辐射信息加载装置所加载的图像信息方法,其特征在于,包括以下步骤:
(1)将所述热辐射信息加载装置放置在红外探测器的正下方,通过该热辐射信息加载装置将加载有图像信息的红外波段发射到红外探测器上;
(2)采用红外探测器读取发射过来的红外波段的光强信息;
(3)对所得红外波段的光强信息进行量化处理,从而将红外波段中的图像信息读取出来。
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