[发明专利]线扫描传感器、线扫描检测系统及线扫描检测方法

说明书

本申请公开了一种线扫描传感器、线扫描检测系统及线扫描检测方法，涉及线扫描技术领域，用于检测卡匣中平板物料的位置分布，能够有效提高检测效率及检测精度。所述线扫描检测方法，包括：逐一点亮照明模块中的多个不可见光光源；在每个所述不可见光光源出射不可见光时，控制摄像模块采集所述不可见光在对应的所述图像采集区内形成的反射光信号，并根据所述反射光信号生成图像；其中，所述图像采集区与所述不可见光光源一一对应，所述图像采集区为单层平板物料承载部的承载区。本申请提供的线扫描传感器、线扫描检测系统及线扫描检测方法用于检测透明基板的位置分布。

技术领域

本申请涉及基板检测技术领域，尤其涉及一种线扫描传感器、线扫描检测系统及线扫描检测方法。

背景技术

线扫描技术是一种常用的非接触式的物料检测技术。在采用线扫描技术进行物料检测的过程中，通常是通过摄像头对物料的图像进行采集，然后利用图像处理技术对采集到的物料的图像进行分析，进而能够确定物料的相关信息。

目前，现有技术中的线扫描技术一般是对单层物料进行平面扫描，且该物料为不透明材质。但是，随着显示装置的轻薄化，显示基板的厚度越来越小。这样在制作显示装置的过程中，存放和取用显示基板的操作越来越精细，使得多层显示基板在摆放于卡匣后的物料检测需求也越来越高。

然而，现有的线扫描技术并不适用于检测各显示基板在卡匣内的位置分布情况。例如，若显示基板为液晶玻璃基板等超薄且具有高透光性的平面基板，那么通过线扫描技术所能采集的显示基板的图像难以与显示基板的背景图像进行区分，从而容易造成图像识别错误。并且，若卡匣内摆放有多层显示基板，那么通过线扫描技术需要采集的图像区域很大，使得每一显示基板在采集的图像中的成像很小，也容易增加图像识别的难度。

发明内容

本申请的目的在于提供一种线扫描传感器、线扫描检测系统及线扫描检测方法，用于检测卡匣中平板物料的位置分布，能够有效提高检测效率及检测精度。

为达到上述目的，本申请提供了如下技术方案：

第一方面，提供了一种线扫描检测方法。所述线扫描检测方法，包括：

逐一点亮照明模块中的多个不可见光光源。

在每个不可见光光源出射不可见光时，控制摄像模块采集所述不可见光在对应的图像采集区内形成的反射光信号，并根据所述反射光信号生成图像，其中，图像采集区与不可见光光源一一对应，所述图像采集区为单层平板物料承载部的承载区。

在本申请中，摄像模块的数量为多个，每个摄像模块对应一个照明模块。所述线扫描检测方法，还包括：判断当前的摄像模块对应的多个图像采集区的图像是否采集完成。如果是，逐一点亮下一个照明模块中的多个不可见光光源，在下一个照明模块中的每个不可见光光源出射不可见光时，控制下一个摄像模块采集所述不可见光在对应的图像采集区内形成的反射光信号，并根据所述反射光信号生成图像。如果否，继续点亮当前的照明模块中的下一个不可见光光源，在下一个不可见光光源出射不可见光时，控制当前的摄像模块采集所述不可见光在对应的图像采集区内形成的反射光信号，并根据所述反射光信号生成图像。

在本申请中，在逐一点亮下一个照明模块中的多个不可见光光源之前，所述线扫描检测方法还包括：判断多个所述摄像模块对应的多个所述图像采集区的图像是否全部采集完成。

如果否，逐一点亮下一个照明模块中的多个不可见光光源。如果是，输出多个所述摄像模块采集的图像，并对所述图像进行识别，以获取相应的检测结果。

在本申请中，摄像模块的数量为多个，每个所述摄像模块对应一个照明模块。每个所述照明模块包括N个不可见光光源，N≥2。所述线扫描检测方法，还包括：同时点亮各照明模块中的第L个不可见光光源，1≤L≤N；在每一第L个不可见光光源出射不可见光时，控制对应的摄像模块采集所述不可见光在对应的图像采集区内形成的反射光信号，并根据所述反射光信号生成图像。