[发明专利]一种纹理影像的色彩校正方法、介质、终端和装置有效

专利信息
申请号: 201911232222.5 申请日: 2019-12-05
公开(公告)号: CN111105365B 公开(公告)日: 2023-10-24
发明(设计)人: 李云强;陈颖;武云钢 申请(专利权)人: 深圳积木易搭科技技术有限公司
主分类号: G06T5/00 分类号: G06T5/00;G06T7/90
代理公司: 武汉谦源知识产权代理事务所(普通合伙) 42251 代理人: 王力
地址: 518052 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 纹理 影像 色彩 校正 方法 介质 终端 装置
【权利要求书】:

1.一种纹理影像的色彩校正方法,其特征在于,包括以下步骤:

步骤1,采用目标光源照射参考平面并采集所述参考平面的测试纹理影像,根据所述测试纹理影像对所述目标光源的亮度进行标定;

步骤2,采用亮度标定后的目标光源照射待测物,并采集所述待测物的目标纹理影像,生成所述待测物的反射系数;

步骤3,根据所述待测物的反射系数对所述待测物在所述目标纹理影像中的亮度进行校正,以使所有目标纹理影像中所述待测物同一材质区域的亮度保持一致。

2.根据权利要求1所述纹理影像的色彩校正方法,其特征在于,采用目标光源照射参考平面并采集所述参考平面的测试纹理影像,根据所述测试纹理影像对所述目标光源的亮度进行标定,具体包括以下步骤:

S101,采用目标光源照射参考平面,并利用三维扫描设备采集参考平面在不同拍摄距离且相同拍摄角度和/或在相同拍摄距离且不同拍摄角度的多张测试纹理影像以及每张测试纹理影像对应的三维点云信息;

S102,针对参考平面的每个像素点建立三维照射模型,将每个像素点的反射亮度、三维点云信息和法线信息标注在所述三维照射模型中,并根据标注结果计算每个像素点对应三维点到目标光源光心的距离和每个像素点对应光线方向和法线方向的夹角;

S103,采用第一预设公式计算每张测试纹理影像中每个像素点对应的光源亮度,所述第一预设公式为:

其中,Iij表示测试纹理影像中像素点(i,j)对应的光源亮度,I′s表示测试纹理影像中像素点(i,j)的反射亮度,λ′为所述参考平面对应的预设反射系数,d0为测试纹理影像中像素点对应三维点到目标光源光心的距离,θ′为测试纹理影像中像素点对应光线方向和法线方向的夹角;

S104,对多张测试纹理影像中相同像素点对应的光源亮度进行滤波或者凸优化处理,生成平滑分布的目标光源亮度Io

3.根据权利要求1或2所述纹理影像的色彩校正方法,其特征在于,采用亮度标定后的目标光源照射待测物,并采集所述待测物的目标纹理影像,生成所述待测物的反射系数,具体包括以下步骤:

S201,采用亮度标定后的目标光源照射待测物,并利用所述三维扫描设备采集待测物的三维模型、待测物在不同拍摄距离的目标纹理影像以及在相同拍摄距离、不同拍摄角度的目标纹理影像;

S202,结合三维扫描设备中相机的参数将所述待测物的三维模型反投影到每张目标纹理影像中,得到每张目标纹理影像中每个像素点对应的反射亮度信息Is、三维点云信息(x,y,z)和法线信息(nx,ny,nz);

S203,针对目标纹理影像中每个像素点建立三维照射模型,将所述反射亮度信息Is、所述三维点云信息(x,y,z)、所述法线信息(nx,ny,nz)以及目标光源标注在所述三维照射模型中,并根据标注结果生成像素点对应三维点(x,y,z)到目标光源光心的距离d以及像素点对应光线方向和法线方向的夹角θ的余弦值,其中

S204,利用第二预设公式,并结合标定后的目标光源亮度计算每个像素点对应的反射系数λ,所述第二预设公式为

Io=Is/λF(θ,d2),

k1,k2和k3为预设系数,

其中,Io表示目标光源的亮度,Is表示目标纹理影像中像素点的反射亮度,d为目标纹理影像中像素点对应三维点到目标光源光心的距离,θ为目标纹理影像中像素点对应光线方向和法线方向的夹角。

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