[发明专利]一种准光学馈电网络系统能量漏射的测试方法有效

专利信息
申请号: 201911226767.5 申请日: 2019-12-04
公开(公告)号: CN110907733B 公开(公告)日: 2021-08-10
发明(设计)人: 李贝贝;李尊良;李向芹;谢振超;瞿浩;李雪 申请(专利权)人: 上海航天测控通信研究所
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 代理人: 胡晶
地址: 201109 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 光学 馈电 网络 系统 能量 测试 方法
【权利要求书】:

1.一种准光学馈电网络系统能量漏射的测试方法,其特征在于,包括:

将准光学馈电网络系统通过馈源喇叭与接收机相连;

系统损耗测试:将冷源置于馈源喇叭的喇叭口面,记录接收机的输出电压V1;

将热源置于馈源喇叭的喇叭口面,记录接收机的输出电压V2;

将冷源置于系统的准光口面,记录接收机的输出电压V3;

按公式:计算系统损耗;

系统外部能量漏射测试:将吸波件依次置于系统的各准光部件之间,记录接收机的输出电压;

比较吸波件置于不同准光部件之间时接收机的各输出电压与V3的大小,若相等,则无外部能量漏射;若不相等,则存在外部能量漏射;

系统内部多径传输测试:将冷源置于系统的准光口面,记录吸波件依次置于系统传播路径的各镜面处时的接收机的输出电压;

比较吸波件置于不同镜面处时接收机的各输出电压大小,若相等,则无多径传输;若不相等,则存在多径传输;

其中,所述系统损耗是指系统各通道的插入损耗;所述准光口面是指系统输入的高斯波束的束腰处;所述系统传播路径是指系统各通道光路由准光口面处入射后,依次传播经过的反射路径;所述准光部件之间是指准光部件框架之间的空间。

2.如权利要求1所述的准光学馈电网络系统能量漏射的测试方法,其特征在于,所述系统损耗测试中置于喇叭口面的热源为盒状热源,所述盒状热源为能够遮挡系统中最大口面的反射镜的盒状容器,所述盒状容器中装有辐射材料;

置于喇叭口面的冷源为盒状冷源,所述盒状冷源为能够遮挡系统中最大口面反射镜的盒状容器,所述盒状容器中装有液氮;

置于系统的准光口面的冷源为标准口径冷源,所述标准口径冷源的尺寸大于准光口面,所述标准口径冷源内设有液氮,且可与外部电源相连,维持稳定的温度。

3.如权利要求1所述的准光学馈电网络系统能量漏射的测试方法,其特征在于,所述吸波件由吸波材料构成,吸波材料为铁氧体等材料构成的尖劈形材料。

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