[发明专利]用于检测颗粒的方法和装置在审

专利信息
申请号: 201911203063.6 申请日: 2019-11-29
公开(公告)号: CN111239010A 公开(公告)日: 2020-06-05
发明(设计)人: 罗伯特·沃尔夫;亚历山大·范德李;里科·斯罗维克;汉斯·斯普鲁伊特;奥克·欧维尔捷希 申请(专利权)人: 罗伯特·博世有限公司;特鲁普光子元件有限公司
主分类号: G01N15/02 分类号: G01N15/02;G01N15/10
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 龚伟;李鹤松
地址: 德国斯*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 检测 颗粒 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种用于检测颗粒的方法,其具有以下步骤:

接收(S1)测量信号;

使用接收的测量信号计算(S2)至少一个估计噪声值;以及

基于至少一个检测标准使用所述测量信号来检测(S3)所述颗粒,其中,所述至少一个检测标准取决于至少一个计算的估计噪声值。

2.根据权利要求1所述的方法,其中,当计算所述估计噪声值时对所接收的测量信号进行滤波,并且其中,所述至少一个估计噪声值对滤波后的测量信号的噪声行为进行量化。

3.根据权利要求2所述的方法,其中,所计算的至少一个估计噪声值包括以下各项中的至少一个:滤波后的测量信号的平均噪声能量、滤波后的测量信号的平均噪声功率、滤波后的测量信号的噪声电压的均方根值、滤波后的测量信号的噪声的能量密度、滤波后的测量信号的概率密度的值、以及滤波后的测量信号的功率谱密度的值。

4.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中,当检测所述颗粒时对所述测量信号进行滤波,并且将所述至少一个检测标准应用于滤波后的测量信号。

5.根据权利要求2至4中任一项所述的方法,其中,当计算所述估计噪声值时和/或当检测所述颗粒时,对所述测量信号的所述滤波包括滤除对所述测量信号的平均贡献。

6.根据前述权利要求中的一项所述的方法,其中,如果取决于所述测量信号的评估信号的信号强度超过阈值,则满足所述至少一个检测标准,其中,所述阈值取决于所述至少一个计算的估计噪声值。

7.根据权利要求6所述的方法,其中,至少一个第一估计噪声值的阈值小于至少一个第二估计噪声值的阈值,其中,所述第一估计噪声值小于所述第二估计噪声值。

8.根据前述权利要求中的一项所述的方法,其中,使用所接收的测量信号针对多个频率范围来分别计算至少一个估计噪声值,并且其中,为了基于所述至少一个检测标准中的一个检测标准来检测所述多个频率范围中的每个频率范围的颗粒,计算检测值。

9.根据权利要求8所述的方法,其中,用于计算所述估计噪声值的不同计算规则分别用于至少两个不同的频率范围。

10.根据权利要求8或9所述的方法,其中,对于至少两个不同的频率范围,分别使用不同的检测标准来计算相应的检测值。

11.根据前述权利要求中的一项所述的方法,其中,基于所检测的颗粒来确定颗粒计数率,并且其中,基于所述颗粒计数率并考虑所述至少一个估计噪声值来确定所述颗粒的至少一个颗粒性质。

12.根据前述权利要求中的一项所述的方法,其中,基于所检测的颗粒来确定颗粒计数率,并且其中,基于所述至少一个估计噪声值来计算所述颗粒计数率的精度的至少一个估计。

13.一种用于检测颗粒的装置(100;200;300;400;500;600),其具有:

接口(101),其被设计为接收测量信号;

计算设备(102;402),其被设计为使用所接收的测量信号来计算至少一个估计噪声值;以及

检测设备(103;403),其被设计为基于至少一个检测标准使用所述测量信号来检测所述颗粒,其中,所述至少一个检测标准取决于至少一个计算的估计噪声值。

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