[发明专利]一种待更换设备确定方法及装置在审

专利信息
申请号: 201911202973.2 申请日: 2019-11-29
公开(公告)号: CN110955587A 公开(公告)日: 2020-04-03
发明(设计)人: 魏子昂 申请(专利权)人: 北京金山云网络技术有限公司;北京金山云科技有限公司
主分类号: G06F11/34 分类号: G06F11/34
代理公司: 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 代理人: 李欣;马敬
地址: 100085 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 更换 设备 确定 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种待更换设备确定方法,其特征在于,所述方法包括:

获取存储系统内各个存储设备的故障率及当前硬件性能;

根据所述故障率及所述当前硬件性能,确定各个存储设备的淘汰优先级,其中,所述故障率与所述淘汰优先级成正比,所述当前硬件性能与所述淘汰优先级成反比;

将所述淘汰优先级高于预设阈值的存储设备确定为待更换设备。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述故障率及所述当前硬件性能,确定各个存储设备的淘汰优先级,包括:

针对每一所述存储设备,确定该存储设备的当前硬件性能的参数值;

根据预设权重,计算该存储设备的故障率与所述参数值的加权和,作为该存储设备的淘汰优先级。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取存储系统内各个存储设备的故障率,包括:

确定存储系统内所包括的各种机型;

分别统计每种机型在预设周期内的故障率,以将各个存储设备的机型的故障率作为所述存储设备的故障率。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取存储系统内各个存储设备的当前硬件性能,包括:

获取存储系统内各个存储设备的硬件信息及使用时间;

对所述硬件信息及所述使用时间进行分析,得到各个存储设备的当前硬件性能,其中,所述使用时间与所述当前硬件性能成反比。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取存储系统内各个存储设备的当前硬件性能,包括:

对各个存储设备的中央处理器及内存进行压力测试,以得到测试结果;

根据所述测试结果,确定所述中央处理器及所述内存的当前硬件性能。

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述根据所述故障率及所述当前硬件性能,确定各个存储设备的淘汰优先级之后,所述方法还包括:

利用所述淘汰优先级低于预设阈值的存储设备存储数据。

7.一种待更换设备确定装置,其特征在于,所述装置包括:

获取模块,用于获取存储系统内各个存储设备的故障率及当前硬件性能;

第一确定模块,用于根据所述故障率及所述当前硬件性能,确定各个存储设备的淘汰优先级,其中,所述故障率与所述淘汰优先级成正比,所述当前硬件性能与所述淘汰优先级成反比;

第二确定模块,用于将所述淘汰优先级高于预设阈值的存储设备确定为待更换设备。

8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述第一确定模块,具体用于:

针对每一所述存储设备,确定该存储设备的当前硬件性能的参数值;

根据预设权重,计算该存储设备的故障率与所述参数值的加权和,作为该存储设备的淘汰优先级。

9.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述获取模块,具体用于:

确定存储系统内所包括的各种机型;

分别统计每种机型在预设周期内的故障率,以将各个存储设备的机型的故障率作为所述存储设备的故障率。

10.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述获取模块,具体用于:

获取存储系统内各个存储设备的硬件信息及使用时间;

对所述硬件信息及所述使用时间进行分析,得到各个存储设备的当前硬件性能,其中,所述使用时间与所述当前硬件性能成反比。

11.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述获取模块,具体用于:

对各个存储设备的中央处理器及内存进行压力测试,以得到测试结果;

根据所述测试结果,确定所述中央处理器及所述内存的当前硬件性能。

12.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述第二确定模块,还用于:

利用所述淘汰优先级低于预设阈值的存储设备存储数据。

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