[发明专利]一种无连接器射频馈点输出型微波射频组件的测试装置

说明书

本发明提供了一种无连接器射频馈点输出型微波射频组件的测试装置，属于射频组件测试技术领域，包括测试台、测试组件以及弹性定位组件，其中，测试台用于固定安装微波射频组件，测试台上横向滑动连接有第一托板，第一托板上纵向滑动连接有第二托板，第二托板上固定连接有滑座；测试组件与滑座沿上下方向滑动连接；测试组件用于与测试电缆电连接，且用于测试微波射频组件上的射频馈点；弹性定位组件设于测试组件与滑座之间，用于向下定位测试组件的测试位置及带动测试组件向上弹起.本发明提供的一种无连接器射频馈点输出型微波射频组件的测试装置，测试效率高，测试过程安全可靠，而且能够通用多种无连接器射频馈点输出型微波射频组件。

技术领域

本发明属于射频组件测试技术领域，更具体地说，是涉及一种无连接器射频馈点输出型微波射频组件的测试装置。

背景技术

当前，为进一步降低微波射频组件的成本，电子装备和器件都在向高集成化、易于装配、简化元器件等方向发展。目前芯片级封装技术手段很多，而且技术较为成熟，相对于尺寸稍大的模块级和组件级产品，特别是射频/微波领域产品，大多采用局部气密封装功能模块的方式进行封装设计，该类设计为无连接器形式，但是，当下无连接器的微波射频组件测试手段匮乏，针对不同的产品需要定制相应的工装，测试效率低、成本高，无法适应大批量、低成本的生产测试应用。

发明内容

本发明的目的在于提供一种无连接器射频馈点输出型微波射频组件的测试装置，旨在解决现有技术中无连接器射频馈点输出型微波射频组件的测试工作效率低、可靠性差的问题。

为实现上述目的，本发明采用的技术方案是：提供一种无连接器射频馈点输出型微波射频组件的测试装置，包括：

测试台，用于固定安装微波射频组件；测试台上横向滑动连接有第一托板，第一托板上纵向滑动连接有第二托板；第二托板上固定连接有滑座；

测试组件，与滑座沿上下方向滑动连接；测试组件用于与测试电缆电连接，且用于测试微波射频组件上的射频馈点；

弹性定位组件，设于测试组件与滑座之间，用于向下定位测试组件的测试位置及带动测试组件向上弹起。

作为本申请另一实施例，弹性定位组件包括：

弹性元件，沿上下方向设于测试组件与滑座之间，弹性元件用于对测试组件施加向下的弹性力；

压杆，铰接于第二托板上，压杆的一端用于与测试组件的下端面抵接，另一端用于施加外力。

作为本申请另一实施例，测试组件上设有沿上下方向延伸的容置槽，滑座上设有挡板，挡板用于插入容置槽内，弹性元件的一端与容置槽的底壁抵接，另一端与挡板的下表面抵接。

作为本申请另一实施例，测试组件包括：

连接架，与滑座沿上下方向滑动连接；容置槽设置在连接架上；压杆与连接架的下端面抵接；

测试架，与连接架纵向滑动连接；

测试探针，与测试架上下滑动连接。

作为本申请另一实施例，滑座上设有沿上下方向延伸的滑槽，连接架与滑槽滑动连接。

作为本申请另一实施例，滑槽两侧分别固接有第一导轨；连接架两侧分别固接有第二导轨；第一导轨与第二导轨滑动接触。

作为本申请另一实施例，第一导轨、第二导轨的接触面上分别设有第一滑道、第二滑道，且第一滑道、第二滑道围成的空间内滑动连接有第一滑块。

作为本申请另一实施例，滑座的下部设有避让槽，压杆与连接架的抵接端转动连接有套筒，套筒穿过避让槽，且与连接架的下端面抵靠。