[发明专利]获取功率校准模型的方法及终端设备有效

专利信息
申请号: 201911185123.6 申请日: 2019-11-27
公开(公告)号: CN111025214B 公开(公告)日: 2022-06-07
发明(设计)人: 栾鹏;王一帮;梁法国;霍晔;刘晨;张立飞 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第十三研究所
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00;G01R21/10
代理公司: 石家庄国为知识产权事务所 13120 代理人: 付晓娣
地址: 050051 *** 国省代码: 河北;13
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摘要:
搜索关键词: 获取 功率 校准 模型 方法 终端设备
【说明书】:

发明适用于非实时在片负载牵引测量技术领域,提供了一种获取功率校准模型的方法及终端设备,该方法包括:获取在片负载牵引系统中的各个组件的S参数和反射系数;基于在片负载牵引系统中的信号源的不同源功率,对接入在片负载牵引系统中的直通件的输出功率进行校准,并根据S参数和反射系数得到直通件的各个功率测量端面的输出功率以及直通件的输入功率;根据直通件的各个功率测量端面的输出功率以及直通件的输入功率构建功率校准模型,以采用功率校准模型进行功率测量,从而可以在非线性状态下进行输出功率测量之前,进行输出功率的校准,从而可以提高测量功率器件时系统测量指标及性能,并且降低测量过程复杂度。

技术领域

本发明属于非实时在片负载牵引测量技术领域,尤其涉及一种获取功率校准模型的方法及终端设备。

背景技术

在片负载牵引测量系统在进行输出功率测量时,首先根据系统测量软件提示,需要进行自校准,其中自校准包括源功率校准测量和S参数校准测量。完成自校准后通过调用在片负载牵引测量系统软件存储的S参数进行测量,即将在片负载牵引测量系统中的微波功率计测量输出功率端面由端面4计算到被测件的输出探针端面2,从而实现被测件在不同负载反射系数下的输出功率测量。然而,现有技术仅能在线性工作区内验证系统的测量性能,无法保证在非线性状态下,测量功率器件时系统输测量指标及性能,并且测量过程复杂。

发明内容

有鉴于此,本发明实施例提供了一种获取功率校准模型的方法及终端设备,通过在非线性状态下进行输出功率测量之前,进行输出功率的校准,从而可以提高测量功率器件时系统测量指标及性能,并且降低测量过程复杂度。

本发明实施例的第一方面提供了一种获取功率校准模型的方法,包括:

获取在片负载牵引系统中的各个组件的S参数和反射系数;

基于在片负载牵引系统中的信号源的不同源功率,对接入所述在片负载牵引系统中的直通件的输出功率进行校准,并根据所述S参数和所述反射系数得到所述直通件的各个功率测量端面的输出功率以及所述直通件的输入功率;

根据所述直通件的各个功率测量端面的输出功率以及所述直通件的输入功率构建功率校准模型,以采用所述功率校准模型进行功率测量。

在一实施例中,所述获取在片负载牵引系统中的各个组件的S参数和反射系数,包括:

采用矢量网络分析仪,对在片负载牵引系统中的功率测量端面3至功率测量端面1的S参数、功率测量端面2至功率测量端面4的S参数以及微波功率计的反射系数进行校准;

采用矢量网络分析仪,对不同阻抗状态下的阻抗调配器进行S参数校准;

获取校准后的S参数和反射系数。

在一实施例中,所述直通件连接在所述在片负载牵引系统中的功率测量端面1和功率测量端面2之间;

所述得到所述直通件的各个功率测量端面的输出功率以及所述直通件的输入功率,包括:

基于所述在片负载牵引系统中的信号源的不同源功率,采用所述在片负载牵引系统中的微波功率计在所述功率测量端面4对所述直通件进行输出功率校准,得到校准过程中的所述微波功率计显示的输出功率以及不同功率测量端面的反射系数;

根据所述S参数、所述输出功率以及所述不同功率测量端面的反射系数,得到所述直通件的各个功率测量端面的输出功率以及所述直通件的输入功率。

在一实施例中,所述根据所述S参数、所述输出功率以及所述不同功率测量端面的反射系数,得到所述直通件的各个功率测量端面的输出功率以及所述直通件的输入功率,包括:

根据所述在片负载牵引系统中的负载阻抗调配器处于初始状态时功率测量端面2至功率测量端面4的S参数、所述输出功率以及功率测量端面4的反射系数,计算获得功率测量端面2的输出功率;

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