[发明专利]经编机

说明书

本发明涉及一种经编机(1)，其具有针织区(5)、送纱区(3)和用于监测所生产的针织物(2)的织物质量的系统，在该针织区内该经编机(1)在针织过程中生产针织物(2)，经纱(4)在经编机(1)运行中在该送纱区内移动，随后它在针织区(5)内经受针织过程，其中用于监测所生产的针织物(2)的织物质量的系统具有光学探测装置(7)和数据处理单元，其中该数据处理单元设立用于产生与针织物(2)的织物质量相关的评估信号。根据本发明，光学探测装置(7)布置成它能测知在该送纱区(3)内的至少一根经纱(4)的运动图，其中该数据处理单元设立用于从该运动图中确定至少一根经纱(4)的走纱速度、在评估步骤中分析走纱速度并且根据评估步骤的分析结果产生该评估信号。

技术领域

本发明涉及一种经编机，其具有针织区和送纱区和用于监测所生产的针织物的织物质量的系统，在该针织区内该经编机在针织过程中生产针织物，经纱在经编机运行中在所述送纱区中移动，随后它们在针织区内接受针织过程，其中用于监测所生产的针织物的织物质量的系统具有光学探测装置和数据处理单元，其中该数据处理单元设立用于产生与针织物的织物质量相关的评估信号。

背景技术

经编机具有成圈工具，其在针织过程中将经纱加工成纺织材料即所谓的针织物。这在经编机的针织区内完成。经纱先移动经过送纱区。针织物通过成圈过程来生产。经编机具有多个梳栉，其中在一个梳栉上分别设有许多成圈工具。因为借助一个梳栉能使多个成圈工具同时运动，因此在针织过程中造成很高的经编机生产能力。

从现有技术中知道了用于监测所生产的针织物的织物质量的系统。因此，DE3733791C2示出一种系统，其借助光学探测装置监测针织物质量。光学探测装置对准所生产的针织物。通过这种方式可以发现织物瑕疵。但在针织物的边缘区内很难借助图像处理方法可靠发现成圈时的瑕疵。这尤其是由针织物边缘区通常具有无序的散脱结构并且易于卷曲而决定的。所生产的针织物还具有织缩行为，就是说它在经编机的织物卷绕装置方向上逐渐缩窄。这也使得发现瑕疵变得困难。特别是，因此无法可靠发现断纱。

为了可靠确定即便是在针织物边缘区内的断纱，在经编机中有时采用停经片。每个停经片在工作中贴靠送纱区中的一根单独纱线。当纱线断裂时，配属于该断纱的停经片随即可以下降，由此触发故障信号。因为每根经纱配属有自己的停经片，因此这种做法在结构上成本很高。

还知道了将光栅布置在针织区前方。具有光栅的系统由DE3401582A1公开了。当经纱在针织过程中断裂时，其一般被甩出针织区并且经过光栅监测区。但是，借助光栅无法测知所有的断纱缺陷，因为不是每根断裂的经纱必然经过光栅的监测区。此外，在光栅工作中应该设有风扇以将经纱从送纱区吹向光栅。

通常，所有的前述系统综合使用。尽管如此，还是可能有一些针织瑕疵无法被识别。当例如一根经纱在针织物的边缘区内被串套接入时，它并不显眼，因为此时并没有出现断纱。当存在串套错误时，经纱被钩挂到按照垫纱数码与之并不对应的线圈中。

发明内容

因此，本发明基于以下任务，即，提供一种经编机，其可靠识别针织瑕疵如断纱和串套错误，但也可靠识别所生产的针织物的其它的质量缺陷。

该任务通过提供一种前言所述类型的经编机来完成，在此，该光学探测装置被布置成使得它能测知在所述送纱区中的至少一根经纱的运动图，其中该数据处理单元设立用于从该运动图中确定所述至少一根经纱的走纱速度、在评估步骤中分析该走纱速度并依据评估步骤的分析结果产生该评估信号。

根据本发明，对该走纱速度进行分析。走纱速度有时也被称为供纱速度。它表示经纱向针织区运动的速度。在特殊情况下，走纱速度也可以暂时为负。通过分析经纱走纱速度而做到了确定瑕疵类型如断纱、串套错误还有其它的质量限制例如所生产的针织物的张力降低。可以提早发现瑕疵，从而机器在瑕疵情况下能被快速停止。首先可如此实现所述分析，光学探测装置对准的是送纱区内的经纱而不是所生产的针织物。替代的瑕疵识别手段例如像停经片或光栅可以完全省掉。迄今只通过观察成品针织物才能找到的许多瑕疵也可以通过分析经纱走纱速度来识别。