[发明专利]一种电脑主板测试治具控制方法

说明书

本发明公开了一种电脑主板测试治具控制方法，适用于AT电源与ATX电源，包括以下步骤：A1、上电，治具进入等待状态；A2、判断是否进行参数设定，若是，进入下一步，若否，转A4；A3、选择工作模式，在各模式下进行参数设定，转A5；A4、调用已存储参数；A5、进入工作状态。本申请通过对于不同的主板电源，分别设置各自的测试参数，同时记录开关机次数、及开机成功与失败的次数，实现对电脑主板的开关机次数与寿命的测试，对不同的主机电源选择不同的工作模式，保证的测试治具控制的通用性。

技术领域

本发明涉及电脑主板测试技术领域，尤其是涉及一种电脑主板测试治具控制方法。

背景技术

目前电脑主板在完成后都要进行测试，以确保主板的运行正常，对于主板的测试包括功能测试治具 2.ict测试治具 3.BGA测试治具，其中，ICT测试治具即 IntegratedCircuit Tester集成电路测试仪器治具的缩写，就是在线检测、测试治具。是对在线元器件的电性能及电气连接进行测试来检查生产制造缺陷及元器件不良的一种标准测试设备。功能测试治具是一种用来测试半成品/成品或生产环节中的某一个工序，以此来判断被测对象是否达到了初始设计者目的的机械辅助设备，功能测试治具应用于模拟、数字、存储器、RF和电源电路，针对每一形式需要相对应的功能测试治具。BGA是IC中的一种封装，BGA测试治具是一种IC需要验正是否OK的IC中的一种封装。

以上各种测试测试了主板的各种功能，但是，对于主板的寿命长短，主板反复开关机的次数是否能够达到设计要求，也是需要进行测试的，因此，设计对于主板的开关机的测试方法是目前亟待解决的问题。

发明内容

本发明的目的是提供一种电脑主板测试治具控制方法，通过对于不同的主板电源，分别设置各自的测试参数，同时记录开关机次数、及开机成功与失败的次数，实现对电脑主板的开关机次数与寿命的测试。

本发明的上述发明目的通过以下技术方案得以实现：

一种电脑主板测试治具控制方法，适用于AT电源与ATX电源，包括以下步骤：

A1、上电，治具进入等待状态；

A2、判断是否进行参数设定，若是，进入下一步，若否，转A4；

A3、选择工作模式，在各模式下进行参数设定，转A5；

A4、调用已存储参数；

A5、进入工作状态。

本发明进一步设置为：步骤A3中，包括以下步骤：

B1、判断是否为AT模式，若是，进入下一步，若否，转ATX模式；

B2、判断是否接收字符串，若是，进入下一步，若否，转B4；

B3、设置未确认开机前的暂停参数；

B4、设置关机断电时长；

B5、设置开机上电时长；

B6、设置测试次数设定值；

B7、判断是否进入工作状态，若否，进入下一步，若是，转B9；

B8、判断是否修改设定参数，若是，转B2，若否，进入下一步；

B9、进入AT模式工作状态。

本发明进一步设置为：ATX模式参数设定，包括以下步骤：

C1、判断是否接收字符串，若是，进入下一步，若否，转C3；

C2、设置未确认开机前的暂停参数；

C3、设置电源键开机保持时间；

C4、设置电源键关机保持时间；