[发明专利]光电测距仪及距离测量方法在审

专利信息
申请号: 201911139647.1 申请日: 2019-11-20
公开(公告)号: CN111208487A 公开(公告)日: 2020-05-29
发明(设计)人: 雷托·施图茨;J·辛德林;A·沃尔泽 申请(专利权)人: 赫克斯冈技术中心
主分类号: G01S7/481 分类号: G01S7/481;G01S17/08
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 王小东;黄纶伟
地址: 瑞士赫*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 光电 测距仪 距离 测量方法
【权利要求书】:

1.一种用于距离测量的方法,所述方法包括:

■以脉冲速率(P、22)发射脉冲光辐射(12),尤其是其中,所述脉冲速率(P,22)为至少1MHz和/或由频率梳激光器(2)生成所述辐射(12),

■使用光敏电接收元件(4)接收从目标对象(100)反射的光辐射(13、13a、13b)的一部分并将其转换成电接收信号(13a、13b、13c...13x),

■以采样速率(S)对所述接收信号(13a、13b、13c...13x)进行采样,从而基于在该情况下生成的采样点(18a、18b、18c...18x)生成数字化信号(13D),

■对所述数字化信号(13D)进行分析以确定发射与接收之间的信号行进时间,以基于所述信号行进时间确定所述距离,

其特征在于,

根据所述脉冲速率(P、22)来设置所述采样速率(S),并且在多个即x个所接收到的辐射脉冲(13)的接收信号(13a、13b、13c....13x)上执行用于生成所述数字化信号(13D)的采样。

2.根据权利要求1所述的方法,

其特征在于,

所述采样速率(S)至少是所述脉冲速率(P、22)的十倍。

3.根据权利要求1或2所述的方法,

其特征在于,

测量所述脉冲速率(P、22),并且根据所测量的脉冲速率(P、22)来设置所述采样速率(S)。

4.根据前述权利要求中任一项所述的方法,

其特征在于,

基于尤其是借助于独立的时钟发生器(7)生成的预定时钟速率来设置所述脉冲速率(P、22)以及与所述脉冲速率(P、22)相适应的所述采样速率(S)。

5.根据前述权利要求中任一项所述的方法,

其特征在于,

所述采样速率(S)被设置成与所述脉冲速率(P、22)成比率,使得

■所述采样速率(S)是所述脉冲速率(P、22)的非整数倍,尤其是其中,对于所述采样速率(S)与所述脉冲速率(P、22)的比率,以下中的任一项适用:采样速率=脉冲速率*(N+1/x),或者采样速率=脉冲速率*(N-1/x),其中,N是自然数,和/或

■所述采样速率(S)小于接收单元的带宽。

6.根据前述权利要求中任一项所述的方法,

其特征在于,

通过以下方式来生成所述数字化信号(13D),

■将多个即x个所接收到的辐射脉冲(13)的所述采样点(18a、18b、18c...18x)累加,尤其是与各接收信号(13a、13b、13c...13x)无关地累加,和/或

■使用多个即x个所接收到的辐射脉冲(13)的所述采样点(18a、18b、18c...18x)来优化描述所述信号(13D)的至少一个多项式的参数值。

7.根据权利要求6所述的方法,

其特征在于,

使用在多个即x个和Mx个采样点(18a、18b、18c...18x)之后重复的所述采样点(18a、18b、18c...18x)来生成所述数字化信号(13D),其中,M是自然数。

8.根据前述权利要求中任一项所述的方法,

其特征在于,

所述采样速率(S)

■被设置成相对于所述脉冲速率(P、22)偏移小于1/x的分数,尤其是至多百万分之一,和/或

■以算法方式进行设置。

9.根据前述权利要求中任一项所述的方法,

其特征在于,

为了避免距离确定中的模糊,执行对辐射脉冲序列(22)的离散和/或模拟调制(23),尤其是其中,为此目的,对发射与接收之间的辐射脉冲(12、13)的数量进行确定。

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