[发明专利]一种数据确定方法、装置及电子设备在审
申请号: | 201911132812.0 | 申请日: | 2019-11-19 |
公开(公告)号: | CN112907758A | 公开(公告)日: | 2021-06-04 |
发明(设计)人: | 李逸;韦青;宋磊;祝凯 | 申请(专利权)人: | 北京畅游天下网络技术有限公司 |
主分类号: | G06T19/20 | 分类号: | G06T19/20;G06T15/00 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 赵焕 |
地址: | 100043 北京市石景山区八*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 数据 确定 方法 装置 电子设备 | ||
1.一种数据确定方法,其特征在于,包括:
获取目标物体以及所述目标物体的物理参数;所述目标物体由3D模型以及与所述3D模型对应的贴图组成;所述物理参数表征所述目标物体的属性信息;
依据所述物理参数,确定所述目标物体的高光参数和漫反射参数;
使用所述高光参数和所述漫反射参数进行所述目标物体的高光绘制和漫反射绘制。
2.根据权利要求1所述的数据确定方法,其特征在于,所述贴图包括用于描述所述3D模型法线信息的法线贴图、用于描述所述3D模型表面金属度的金属度灰度图、用于描述所述3D模型表面粗糙度的粗糙度灰度图、用于描述所述3D模型表面适用高光区域范围的高光区域灰度图以及用于描述所述3D模型所处环境的环境贴图。
3.根据权利要求2所述的数据确定方法,其特征在于,所述物理参数包括所述3D模型的物理参数、所述法线贴图的物理参数、所述金属度灰度图的物理参数、所述粗糙度灰度图的物理参数、所述高光区域灰度图的物理参数以及所述环境贴图的物理参数。
4.根据权利要求1所述的数据确定方法,其特征在于,依据所述物理参数,确定所述目标物体的高光参数和漫反射参数,包括:
获取所述目标物体的高光参数的计算规则和漫反射参数的计算规则;
依据所述物理参数、高光参数的计算规则和漫反射参数的计算规则,确定所述目标物体的高光参数和漫反射参数。
5.根据权利要求1所述的数据确定方法,其特征在于,在获取目标物体以及所述目标物体的物理参数之前,还包括:
设置一补充光源;所述补充光源以当前摄像机的位置为位置基准,以所述当前摄像机到所述目标物体的方向为朝向的光源。
6.一种数据确定装置,其特征在于,包括:
数据获取模块,用于获取目标物体以及所述目标物体的物理参数;所述目标物体由3D模型以及与所述3D模型对应的贴图组成;所述物理参数表征所述目标物体的属性信息;
参数计算模块,用于依据所述物理参数,确定所述目标物体的高光参数和漫反射参数;
光绘制模块,用于使用所述高光参数和所述漫反射参数进行所述目标物体的高光绘制和漫反射绘制。
7.根据权利要求6所述的数据确定装置,其特征在于,所述贴图包括用于描述所述3D模型法线信息的法线贴图、用于描述所述3D模型表面金属度的金属度灰度图、用于描述所述3D模型表面粗糙度的粗糙度灰度图、用于描述所述3D模型表面适用高光区域范围的高光区域灰度图以及用于描述所述3D模型所处环境的环境贴图。
8.根据权利要求7所述的数据确定装置,其特征在于,所述物理参数包括所述3D模型的物理参数、所述法线贴图的物理参数、所述金属度灰度图的物理参数、所述粗糙度灰度图的物理参数、所述高光区域灰度图的物理参数以及所述环境贴图的物理参数。
9.根据权利要求6所述的数据确定装置,其特征在于,所述参数计算模块用于依据所述物理参数,确定所述目标物体的高光参数和漫反射参数时,具体用于:
获取所述目标物体的高光参数的计算规则和漫反射参数的计算规则,依据所述物理参数、高光参数的计算规则和漫反射参数的计算规则,确定所述目标物体的高光参数和漫反射参数。
10.根据权利要求6所述的数据确定装置,其特征在于,还包括:
光源设置模块,用于设置一补充光源;所述补充光源以当前摄像机的位置为位置基准,以所述当前摄像机到所述目标物体的方向为朝向的光源。
11.一种电子设备,其特征在于,包括:存储器和处理器;
其中,所述存储器用于存储程序;
处理器调用程序并用于:
获取目标物体以及所述目标物体的物理参数;所述目标物体由3D模型以及与所述3D模型对应的贴图组成;所述物理参数表征所述目标物体的属性信息;
依据所述物理参数,确定所述目标物体的高光参数和漫反射参数;
使用所述高光参数和所述漫反射参数进行所述目标物体的高光绘制和漫反射绘制。
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